文档介绍：温湿度传感器SHT7X和SHT2X系列的个人笔记：
官方资料下载：

1：使用时硬件部分注意：
A:电源端需接100nF或以上退偶电容。
B:DATA、SCK需要接上拉电阻到其正电源端。
C:若走线过长，DATA与SCK之间最好加地线或电源线隔离。
D:MCU不能用带+5V输出的I/O口去直接驱动。MCU需用不带内上拉电阻的集电极输出端或外加+3V转换隔离电路去连接SHT，否则出错或损坏SHT。
E:上电后，需等待至少11ms的时间让SHT进入休眠状态（即等待状态）后再驱动SHT。
2：软件：
A:SHT7X系列和SHT2X系列驱动方式或协议有区别，SHT2X的D系列是IIC方式，而SHT7X并非标准IIC协议，具体看手册。SHT2X还有SDM比特流、PWM的接口系列，这里我们仅讨论常用的IIC系列。
B:SCK时钟线相对其它数字芯片，运行频率过低。驱动时需按手册上做相应延时。
C:测量命令发出，给充足等待时间，实验时设置>200ms，实验通过之后，再进行多次小幅减小等待时间测试，直到稳定、高速。但测量频率不宜过高，随着测量频率增加，其电能损耗会使自身温度有相应上升，会影响测量精度。
在满足产品要求的前提下尽量延长测量周期，当然并非无限延长，一般控制在1秒钟1~3次的测量为宜，具体测量上限频率按照手册和根据实际要求情况而定。
网站资料有C历程，但过于庞杂，特别是SHT2X系列，没必要每句都读到，大家可以挑着重点分析，主要是通讯过程细节实现和CRC校验。
3：关于CRC校验：
具体原理大家看相应文献，这里主要强调以下：
A:SHTXX使用CRC8校验,沉余多项式：P(x)=x^8+x^5+x^4+1==0x131;（手册中多项式不包括最末位1）
B:校验原始数据：SHT7X系列需从开始的地址到命令符直至测量数据全部进行CRC沉余运算；而SHT2X系列只需对测量结果：CRC码前16位温湿度二进制数据进行CRC沉余运算。
C:CRC添加到信息帧中顺序：SHT7X系列需高低位翻转后即MSB变为LSB```LSB变为MSB，加到信息帧末尾。而SHT2X系列不需高低位翻转，CRC直接加到信息帧末尾。
4：关于PROTEUS仿真：仿真软件中SHT7X系列CRC并未进行翻转，若翻转CRC校验会报错，跟实际使用不符，这里大家要注意；笔者当初卡这老半天，最后才发现。至于SHT2X——完全没响应！仿真时一直有莫名错误，实际已完全正常，包括CRC，但仿真时仍有错误。主要公司需要保留过程全部资料文档，包括仿真历程，
希望有明了SHT2X仿真问题原因的，告知大家，由于工程有限，笔者不能继续仿真测试，此次工程过后再分析。（使用的版本是：，貌似此原因跟非正版没多大关系）
其余补充说明：
在KEIL编译时，例如若定义一个整形变量：unsigned int i，进行/求模运算时：例：22000/320，结果不正确，。恕笔者才疏学浅，学校时没好好听课，不知此现象具体原因。若定义菲整形如float i，怎么都正确。自己找资料看吧。在此对后面计算编写出错时，有类似现象的作下参考。
以下附上SHT71和SHT21完整调试程序，全部全局变量：（使用MAX7219驱动共阴数码管显示）（不含寄存器操作，局部注释）
SHT21:
#include<>
#include<>
#include<>
#include<>
#include<>
#define uint unsigned int
#define uchar unsigned char
uchar code table[]={ //共阴数码管：0、1、2、3、4、5、6、7、8、9、-、不显示；
0x7e,0x30,0x6d,0x79,
0x33,0x5b,0x5f,0x70,
0x7f,0x7b,0x01,0};
uint i,ii,yyi,crc1;
uchar vv,crc0,imm,error=0;
float TEMP=0,HUMI=0;
sbit DIN=P2^0; //MAX7219接口定义,数据总线
sbit LOAD=P2^1; //MAX7219接口定义,片选位
sbit CLK=P2^2; //MAX7219接口定义,时钟信号端
sbit SCL_sht=P0^0; //SHT21接口定义,时钟信号端
sbit SDA_sht=P0