文档介绍：The document was prepared on January 2, 2021
元器件检验通用标准
来料检验标准
版本：第三版
文件编号：WI/HV-12-001
受控状态：
碳膜电阻
修改页：

抽样检验标准：
依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=；MA：AQL= ；CR：AQL=
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
序号
检验
项目
检验标准及要求
AQL
检验方法
1
外观
色环标识
色环标识与电阻标称值精度等级是否一一致.
用毛刷沾洗板水轻擦色环，不能出现脱色现象。
MI
目测
元件体
电阻有无破损，引脚是否氧化。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图；符合实际装配。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内,电阻值小于10K的用串联方式，频率选用100Hz. 电阻值大于等于10K的用并联方式，频率选用100Hz。
分别在高温85℃、低温-20℃、温度93%±3%、100CM高度自由跌落3次，对应R值均符合标称值以及偏差允许范围。
碳膜电阻误差值：±5%
MA
LCR电桥
4
可焊性
用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中一次上锡面积大于85%。表面色环的
颜色不发生变化。
MA
烙铁
小锡炉
5
材料
所用材料与样品相符。
与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
外壳用刀片刮取，壳体坚韧度需符合。
MA
目测、对比样品
刀片
6
包装标识
包装材料用料正确。
2、小包装方式、数量无误。
装箱方式、数量无误。
4、（内包装、外箱）标识单内容正确。
MA
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期
来料检验标准
版本：第三版
文件编号：WI/HV-12-002
受控状态：
金属膜电阻类
修改页：

抽样检验标准：依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=；MA：AQL= ；CR：AQL=
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
序号
检验
项目
检验标准及要求
AQL
检验方法
1
外观
色环标识
色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。
MI
目测
元件体
电阻有无破损，引脚是否氧化。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
室温下用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内，电阻值小于10K的用串联方式，频率选用100Hz；电阻值大于等于10K的用并联方式，频率选用100Hz。
分别在75℃、-5℃以下、湿度93％±3％、100CM高度自由跌落3次，对应R值均符合标称值及偏差允许范围。
MA
LCR电桥
4
、精密电阻阻值偏差不得超出标称值的上下限。
4. 金属膜电阻误差值±1％
CR
5
可焊性
用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。
MA
烙铁
小锡炉
6
材料
所用材料与样品相符。
与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
7
包装标识
包装材料用料正确。
小包装方式、数量无误。
装箱方式、数量无误。
（内包装、外箱）标识单内容正确。
MI
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期
来料检验标准
版本：第三版
文件编号：WI/HV-12-003
受控状态：
氧化膜电阻
修改页：

抽样来料检验标准：
依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=；MA：AQL= ；CR：AQL=0
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
序号
检验
项目
检验标准及要求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。
MI
目测
元件体
电阻有无破损，引脚是否氧化。
MI
目测
2
尺寸
外形尺寸是否符合产品工程图。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内，电阻值小于10K的用串联方式，频率选用100Hz；
分别在75℃、-5℃、湿度93％±3％、100CM
高度自由跌落3次，对应R值均符合