文档介绍：测量系统分析
Measurement Systems Analysis
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术语
量具：任何用来获得测量结果的装置；经常用来特指用在车间装置；包
括用来测量合格/不合格的装置。

测量系统：用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件以及
操作人员的集合；用来获得测量结果的整个过程。
计量型：从一个过程中可得到的测量数。（如千分尺、卡尺、光澤儀等）
计数型：测量的数据只有两个值，合格/不合格、成功/失败、通过/不通过、
出席/缺席。（如針規等）
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测量系统变差的类型
测量系统误差可以分成五种类型：偏倚，重复性，再现性，稳定性以及线性。
现在广泽所用的测量系统分析：
重复性、再现性、风性分析法、小样法
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偏倚
是测量结果的观测平均值与基准值的差值。基准值，也称为可接受的基准值或标准值，是充当测量值的一个偏倚一致认可的基准，一个基准值可以通过采用更高级别的测量设备（例如，计量实验室或全尺寸检验设备）进行多次测量，取其平均值来确定。
基准值

观测的平均值
偏倚
4
重复性

重复性是由一个评价人，采用一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。
重复性
5
再现性
再现性是由不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。
操作者B
操作者C

操作者A
再现性
6
稳定性
稳定性（或飘移），是测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差。
稳定性

时间2

时间1
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线性
线性是在量具预期的工作范围内，偏倚值的差值。
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象每个过程一样，对用来描述测量系统变差的分布可以赋予下列特性：
1）位置
· 稳定性;
· 偏倚;
· 线性。
2）宽度或范围
· 重复性；
· 再现性。
测量系统的分析
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稳定性
使用控制图来确定统计稳定性。控制图可提供方法来分离影响所有测量结果的原因产生的变差（普通原因变差）和特殊条件产生的变差（特殊原因变差）。控制图法可在质量与统计过程控制（SPC）一书中找到。需要着重指出的是，使用控制图时，我们不仅必须注意落在控制限以外的点，还应注意其他特殊原因信号如趋势和中心线附近的点。这些信号的出现及控制限外一点或多点都表明“失控”或不稳定状态。
研究测量系统稳定性的一个方法是按常规画出基准或基准件重复读数的平均值和极差(X-R控制图)。从这种分析中可以确定，例如，失控信号是需要校准测量系统的标志。还有可能由于基准或基准件变脏而出现失控信号。无论哪种情况，包含在控制信号内的信息的解释取决于对过程的了解。
用于测量系统控制图的样本容量及抽样频率的确定也应依赖于对测量系统的了解。主要考虑的还是使用过程中测量系统所有的外部条件。例如,如果确信使用者在使用系统之前提供足够的预热时间,则应预热后才进行抽样。
2 .2 测量系统的分析 —— 稳定性
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