文档介绍：Revised by Petrel at 2021
超声波仪器和探头的使用校验
质量规范
超声波仪器和探头的使用校验
目的和用途校检
所有使用的超声波检测设备都必须定期校检，仪器和探头的日校和周校都必须由通过超声认证的人员来完成，本规范描述了该校验的方法。
标准参考
EN12668-3无损检测—超声设备的特点和验证—第三部分：设备组合。
EN12223无损检测—超声检测—校准试块No1的规范。
EN27963无损检测—刚焊缝检测—焊缝超声检测试块No2。
登记
为初始测量和定期校验的两个登记表格作为本规范的一部分。
设备
参考试块V1DS/EN12223
参考试块V2DS/EN27963（）
参考试块TIF(长横孔试块)
测试范围
新的设备和探头组合最初使用时，必须对它作一个基本的测量，并且记录在登记簿上，//。
每一个测量点完成，记录好数值，对于剩余的测量点，做好任务标记。
探头必须每工作日校验，对于测定信操比和脉冲持续时间距离上一次使用每周一次已是足够的。仪器常规每周校验一次，但是如果使用中对仪器有怀疑，必须立即校验。
斜探头
测试包括以下几点：
测试周期
测试内容
每日（如果使用）
物理状态和外形
入射点
折射角
灵敏度
信噪比
脉冲持续时间
物理状态和外形的测试
目视检查探头和连接线是否有损坏或磨损；检查电路连接的稳定性；。
底面磨损不允许超过下面的厚度，是指从磨损最低处到探头壳平面的距离。
KrautkrmerSWB-探头：1mm.
KrautkrmerMWB-探头：1mm.
KrautkrmerWB/WK-探头：2mm.
当达到这个限度时，要废弃或者更换探头底面锲块。对于可更换的锲块，晶片和锲块之间要有足够的机油以保证良好的耦合。
入射点的测量
用V1和V2试块来测量探头的入射点，要注意探头的入射点回随着探头底面锲块的厚度不同而变化的；入射点不是很严格，但是要在±1mm公差范围
折射角的测量
折射角通常用V1来测量，但也可以用TIF试快来测定。
用TIF试块的时候，获取25mm深处来的反射体最大回波，读取声程距离，扩散角可以通过公式来计算。
折射角=arccos(25/S),这里S=显示的声程距离+
计算
25/（显示的声程距离+）=COS折射角读数
如果结果值与探头标称值有±2°的误差，修磨探头底面，如果还是不行则更换底面或者丢弃。
对于80°的探头，允许最低折射角为74°
根据标准反射体测量灵敏度
增益调至最低，获取25mm深处反射体的最大反射回波并调至屏幕80%高度，记录此时的dB值并且对照仪器和探头组合灵敏度的基本测量值，如果偏差超过6dB，则更换探头。
应当注意灵敏度的降低也许是因为探头底面磨损不均匀所至，在更换探头前检查这一点。当然TIF试块上不能有腐蚀或使用已经干燥的偶合剂。
信噪比的测量
增益设为最低，获取25mm深处反射体的最大反射回波并调至屏幕20%高度，从试块上拿去探头并清除掉偶合剂，探头放置一边并提高增益直到噪声信号达