文档介绍：来料检验标准
版本：第三版
文件编号： WI/HV-12-001
受控状态：
碳膜电阻
修改页：

抽样检验标准：
依据 MIL-STD-105D-H ; MI : AQL=; MA: AQL= ; CR: AQL=
MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷
序
号
检验
项目
检验标准及要求
AQL
检验方法
1
外观
色环标识
色环标识与电阻标称值精度等级是否一致 .
用毛刷沾洗板水轻擦色环，不能出现脱色现象。
MI
目测
元件体
电阻启龙破损，引脚是否氧化。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图；符合实际装配。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
.用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内，电阻值小于10K的用串联方式，频率选用100Hz. 电阻值大于等于10K的用并联方式，频率选用 100Hz。
.分别在高温85C、低温-20C、温度93%± 3%、 100cM高度自由跌落3次，对应R值均符合标称值以及偏差允许范围。
.碳膜电阻误差值：± 5%
MA
LCR电桥
4
可焊性
用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放
在230± 5c锡炉中一次上锡面积大于 85%。表面色环
的
颜色不发生变化。
MA
烙铁
小锡炉
5
材料
.所用材料与样品相符。
.与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
.外壳用刀片刮取，壳体坚韧度需符合。
MA
目测、对比样品
刀片
6
包装
标识
1、包装材料用料止确。
2、小包装方式、数量无误。
3、装箱方式、数量无误。
4、（内包装、外箱）标识单内容止确。
MA
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期
来料检验标准
版本：第三版
文件编号： WI/HV-12-002
受控状态：
金属膜电阻类
修改页：

抽样检验标准：依据 MIL-STD-105D-H ; MI : AQL=; MA: AQL= ; CR: AQL=
MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷
序
号
检验
项目
检验标准及要求
AQL
检验方法
1
外观
色环标识
色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。
MI
目测
元件体
电阻启龙破损，引脚是否氧化。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
.室温下用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围
内，电阻值小于10K的用串联方式，频率选用100Hz;
电阻值大于等于10K的用并联方式，频率选用100Hz。
.分别在75C、-5c以下、湿度93%±3%、100cM高度自由跌落3次，对应R值均符合标称值及偏差允许范围。
MA
LCR电桥
4
.金属膜、精密电阻阻值偏差不得超出标称值的上下限。
.金属膜电阻误差值± 1%
CR
5
可焊性
用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在 230
±5C锡炉中，一次上锡面积大于 85%。
MA
烙铁
小锡炉
6
材料
1、所用材料与样品相符。
2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
7
包装
标识
1、包装材料用料止确。
2、小包装方式、数量无误。
3、装箱方式、数量无误。
4、（内包装、外箱）标识单内容止确。
MI
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期
来料检验标准
版本：第三版
文件编号： WI/HV-12-003
受控状态：
氧化膜电阻
修改页：

抽样来料检验标准：
依据 MIL-STD-105D-H ; MI : AQL=; MA: AQL= ; CR: AQL=0
MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷
序
号
检验
项目
检验标准及要求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。
MI
目测
元件体
电阻启龙破损，引脚是否氧化。
MI
目测
2
尺寸
外形尺寸是否符合产品工程图。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
.用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围
内，电阻值小于10K的用串联方式，频率选用
100Hz;
.分别在 75C、-5C、湿度 93% ±3%、100cM
高度自由跌落3次，对应R值均符合标称值及
偏差允许范围
CR
LCR电桥
4
材料
所用材料与