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硬盘提速大法让你的硬盘更 nb
随着对高容量存储设备的需求不断增长,
硬盘厂商不断为基
础性的磁记录技术问题寻找创新的解决方案。
其中一大挑战是如
何在写入时有效地覆盖写入位置原有的数据,
这对在不同的操作
温度和读写任务负载条件下的可恢复的软错误率 (SER )的表现非 常关键。影响数据覆盖的一项重要参数是读写磁头与记录磁盘之 间的间距,通常称为飞行高度。
飞行高度的主要影响因素在于朝着记录磁盘凸出的读写元
件。读写元件与记录磁盘的间距随着温度以及的硬盘的读写任务
负载而变化。众所周知,在不同的操作温度下或在磁盘上位置的 不同,读写磁头的机械飞行高度也不同。在以往,硬盘中都内置 了温度感应器以监视硬盘的操作温度, 同时录写电流可获相应调
整以补偿磁头飞行高度的变化以及适应磁盘介质的矫顽力。
由于磁头上的凸起元件采用特殊的制造材料, 其膨胀、收缩的速
度也比其他部分快。当资料被写入磁盘时,电流将通过磁头的录 写线圈,这样产生的一个副作用是使录写元件受热膨胀, 导致磁
头读写元件向磁盘进一步凸起。 因此,磁头读写元件与磁盘之间
的有效间距缩短,进而使读写稳定性下降。由于凸起的幅度随温 度而变化,如何保持读写的稳定性,最简单的方面就是确保磁头 和磁盘的有效距离不变,而最简单的方法就是保持磁头读写区温 度趋于稳定。日立开发的热悬浮控制技术 (简称TFC),就是通过 这一原理。它能通过磁头上内置的加热元件直接控制读写磁头的
凸起元件,使读写磁头与记录磁盘之间的间距更稳定。 在日立最
新推出的5K160移动产品系列中,就采用了这一技术。
读写性能的测试显示使用热悬浮控制技术可将软错误率降低
30%到40%,这标志着软错误率(SER)的显著改善,因而提