文档介绍：“颗粒粒径分析方法”汇总大全
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图3：筛分法原理示意图
       显微镜法
       该法测试时将试样涂在玻璃载片上，采用成像法直接观察和测量颗粒的平面投影图像，从而测得颗粒的粒径。能逐个测定颗粒的投影面积，以确定颗粒的粒度，测定范围为150～ μm， μm或更小。显微镜法属于成像法，运用不同的当量表示。故而显微镜法的测试结果与其他测量方法之间无直接的对比性。是一种最基本也是最实际的测量方法，常被用来作为对其他测量方法的校验和标定。但这类仪器价格昂贵，试样制备繁琐，测量时间长，若仅测试颗粒的粒径，一般不采用此方法。但若既需要了解颗粒的大小还需要了解颗粒的形状、结构状况以及表面形貌时，该方法则是最佳的测试方法。
       其中较为常用的有SEM（扫描电子显微镜）、TEM（透射电子显微镜）和AFM（原子力显微镜）。
       例如顶级期刊中常用这些方法进行材料形貌与微粒大小分析：
       SEM：
图4：模板剂聚苯乙烯（PS）球的SEM图[1]
       TEM:
图5：硅微球的TEM图及其直径分布统计图[2]
       AFM：
图6：氧化石墨烯的AFM图片[3]
       超声粒度分析
       超声波发生端（RF Generator）发出一定频率和强度的超声波，经过测试区域，到达信号接收端（RF Detector）。当颗粒通过测试区域时，由于不同大小的颗粒对声波的吸收程度不同，在接收端上得到的声波的衰减程度也就不一样，根据颗粒大小同超声波强度衰减之间的关系，得到颗粒的粒度分布，同时还可测得体系的固含量。
图7：超声粒径分析仪原理示意图
       X射线粉晶散射法（XRD）
       利用谢乐公式进行计算：
       (K为谢乐常数、D为晶粒垂直于晶面方向的平均厚度、B为实测样品衍射峰半高宽度、θ为衍射角、γ为X射线波长， nm)
       K为谢乐常数，若B为衍射峰的半高宽,则K=；若B为衍射峰的积分高宽,则K=1；D为晶粒垂直于晶面方向的平均厚度（nm）；
       B为实测样品衍射峰半高宽度（必须进行双线校正和仪器因子校正），在计算的过程中，需转化为弧度（rad）；
       θ为衍射角，也换成弧度制（rad）；
       γ为X射线波长， nm。
       1、优点：该方法测试过程简单，易行，在晶体材料中晶粒估算上具有广泛应用。
       2、缺点：该方法测试结果较为粗糙，且不适用于非晶材料。
       颗粒图像法
       1、颗粒图像法有静态、动态两种测试方法。
       2、静态方式使用改装的显微镜系统，配合高清晰摄像机，将颗粒样品的图像直观的反映到电脑屏幕上，配合相关的计算机软件可进行颗粒大小、形状、整体分布等属性的计算
       3、动态方式具有形貌和粒径分布双重分析能力。重建了全新循环分散系统和软件数据处理模块，解决了静态颗粒图像仪的制样繁琐、采样代表性差、颗粒粘连等缺陷
图8：颗粒图