文档介绍：X射线光电子能谱与紫外光谱在化学中的应用同济大学化学系祝全敬 X 射线光电子能谱(简称 XPS ) (X-Ray Photoelectron Spectroscopy) ? XPS 用途表面物质表面的元素组成和化学状态主要内容?表面能谱技术简介及发展历史?XPS 技术的原理?XPS 技术的定性及定量分析手段?XPS 在化学中的应用?数据处理介绍 1,《X 射线光电子能谱分析》,刘世宏,王当憨, 潘承璜著,科学出版社, 1988 。 2,《电子能谱基础》,潘承璜,赵良仲著,科学出版社, 1981 。 3,《电子能谱学( XPS/XAES/UPS )引论》,王建祺,吴文辉,冯大明著,国防工业出版社, 1992 。 4,其他电子书参考书目表面能谱技术简介及发展历史? 1887 年, 海因里希·鲁道夫·赫兹发现了光电效应, 1894 年去世。?勒纳德系统研究了光电效应, 1905 年获得诺贝尔物理学奖(阴极射线)。? 1905 年, 爱因斯坦解释了该现象,获 1921 年的诺贝尔物理学奖)。? 1907 年,因斯( . Innes )用伦琴管、亥姆霍兹线圈、磁场半球和照像平版来记录宽带发射子和速度的函数关系,记录了人类第一条 X射线光电子能谱。? 1914 年,卢瑟福( Rutherford )成功地表述了 XPS 基本方程: E k = h?-E b-?? XPS 的研究由于二战而中止, 二战后利哈伊( Lehigh )大学的 Steinhardt 和 Serfass 更新了 XPS 以用于表面化学分析, 1951 年报道了表面对谱的影响。?后来,瑞典物理学家凯·西格巴恩( Siegbahn) 和他在乌普萨拉( Uppsala) 的研究小组在研发 XPS 设备中获得重大进展。于 1954 年获得了氯化钠的首条高能高分辨 X射线光电子能谱,显示了 XPS 技术的强大潜力。? 1967 年后的几年间,西格巴恩就 XPS 技术发表了一系列学术成果, 使 XPS 的应用被世人所公认。?美国惠普公司与 Siegbahn 合作于 1969 年制造了世界上首台商业单色 X射线光电子能谱仪。? 1981 年西格巴恩获得诺贝尔物理学奖,以表彰他将 XPS 发展为一个重要分析技术所作出的杰出贡献?商品化仪器开始出现于 1969~1970 年, 1972 年又出现第一台超高真空能谱仪? 20 世纪 80 年代末期仪器性能显著提高,具有很高的灵敏度和能量分辨率以及空间分辨能力<10 ?m的直接成像?上世纪九十年代,小面积 XPS 、成像 XPS 和角分辨 XPS 发展较快。?最近几年,在进一步提高检测灵敏度、改善荷电效应、分析功能化和智能化等方面有较大发展。?目前,生产 X 射线光电子能谱仪的主要厂家有:日本真空-PHI 公司(原美国 PE 公司);美国热电-VG 公司; 岛津-KRATOS 公司;北京汇德信 Omicon 公司等。电子能谱简介根据激发源的不同,电子能谱又分为: 1,X 射线光电子能谱(简称 XPS) (X-Ray Photoelectron Spectrometer) 2,紫外光电子能谱(简称 UPS) (Ultraviolet Photoelectron Spectrometer) 3,俄歇电子能谱(简称 AES) (Auger Electron Spectrometer) 4,高分辨电子能量损失谱(简称 HREELS) (High-Resolution Electron Energy Loss Spectrometer)