计算机组成原理运算器实验—算术逻辑运算实验.doc

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实验报告
实验名称
运算器实验—算术逻辑运算实验
二、实验目的
1、了解运算器的组成原理。
2、掌握运算器的工作原理。
3、掌握简单运算器的数据传送通路。
4、验证运算功能发生器（74LS181）的组合功能。
三、实验设备
TDN-CM++计算机组成原理教学实验系统一套，导线若干。
实验原理

实验中所用的运算器数据通路如图1-1所示。其中两片74LSl81以串行方式构成8位字长的ALU，ALU的输出经过一个三态门(74LS245)和数据总线相连。三态门由ALU-R控制，控制运算器运算的结果能否送往总线，低电平有效。
为实现双操作数的运算，ALU的两个数据输入端分别由二个锁存器DR1、DR2（由74LS273实现)锁存数据。要将数据总线上的数据锁存到DRl、DR2中，锁存器的控制端LDDR1和DDR2必须为高电平，同时由T4脉冲到来。
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数据开关(“INPUT DEVICE")用来给出参与运算的数据，经过三态(74LS245）后送入数据总线，三态门由SW—B控制，低电平有效。数据显示灯(“BUS UNIT")已和数据总线相连，用来显示数据总线上的内容。
图中已将用户需要连接的控制信号用圆圈标明(其他实验相同，不再说明)，其中除T4为脉冲信号外，其它均为电平信号。由于实验电路中的时序信号均已连至“W／R UNIT”的相应时序信号引出端，因此，在进行实验时，只需将“W／R UNIT"的T4接至“STATE UNIT”的微动开关KK2的输入端，按动微动开关，即可获得实验所需的单脉冲。
ALU运算所需的电平控制信号S3、S2、S1、S0 、Cn、M、LDDRl、LDDR2、ALU-B、SW-B均由“ SWITCH UNIT ”中的二进制数据开关来模拟，其中Cn、ALU—B、SW一B为低电平有效LDDR1、LDDR2为高电平有效。
对单总线数据通路，需要分时共享总线，每一时刻只能由一组数据送往总线。
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