文档介绍：涂层厚度测量
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TT130 超声波测厚仪
发射插座
接收插座
机身
液晶屏
探头
键盘
校准试块
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液晶屏显示：
BATT---低电压标志
凸----耦合标志
m/s---------声速单位
mm-单元的内容。此时测量也可将新测的值存入该单元。按 VEL 键可退出厚度存储状态。
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例：查看 3 号单元存储的厚度值
1. 按住 VEL 键,再按 ZERO 键,显示如下:
2. 用▲或▼键找到 3 号单元, 显示如下:
3. 按住 VEL 键,再按 ZERO 键,显示出 3 号单元存储的厚度值如下:
VEL 键退出厚度存储状态。如果不按 VEL 键退出厚度存储状态，那么再测量的厚度值将该单元的旧值刷新。
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7 低电压指示
如果屏幕显示 BATT 标志，说明电池电压已低落，应及时更换电池后再继续使用。
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8 自动关机
如果二分钟内不进行任何操作，将自动关机。
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HCC-24磁阻法测厚仪
仪器外型
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按键说明
1、“开/关”：仪器的开关键。
2、“统计RES”：数理统计键，对测量结果进行数理统计，并顺序显示下述数据，即测量的次数（N）、平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）。
3、“清除DEL”：从统计中消除当前测量值的键。
4、“校正CAL”：用于校正仪器的键。
5、“︿”：处在校正方式时，递增显示数值的键；在正常测试时，用于普通模式与连续测量模式转换。
6、“﹀”：处在校正方式时，递减显示数值的键；在正常测试时，用于普通模式与连续测量模式转换。
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仪器的基本使用方法
用本仪器进行测试使用起来非常简单：首先用螺丝刀撬开仪器背面的电池盒盖，装入电池。然后按“开/关”键开机，仪器显示“---”，2秒钟后显示“0μm”，仪器便进入测量状态。此时，用户只要将仪器的探头垂直压在被测面上（如图1）。注意，探头按下时，探头的尾部会抬起，手不要碰到探头的金属部分，以免影响保持探头内体自由上下活动。保持探头放置稳定，仪器显示器上会出现一个标志，并显示测试结果。如果要再测一次，往上提探头使其离开被测面，然后再按下探头，仪器随后就会显示新的测试结果。如果被测面是弧形的，按图2的方式，使探头下端的三角开叉跨在被测件上，这样便能稳固地放置探头，保证测试结果准确。
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为了保证仪器正常工作并获得最佳工作状态，请注意以下2个使用细节：
1. 在仪器开机时，使探头远离被测件和其它铁磁性物体（10cm以上），直到仪器显示 “0μm”为止。
2. 每次测试后，尽量上提探头，使其远离被测件，这样会使仪器处于良好的环境适应状态。
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正式测试前的准备工作
用户购买后的新仪器在进行实际使用前，都必须要进行仪器的校正，这是保证仪器达到标称精度的重要保证，请务必重视。
仪器有多种校正方法，使用很灵活，用户可根据实际需要选择如下一种方式：
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1）全范围高准确度的传统校正法
用户通过随机配备的三个不同厚度的试片和裸基体完成校正，具体步骤如下：
步骤一
在仪器处于开机后的状态时，按一下“校正CAL”键，仪器屏上会出现“CAL”，同时会显示一个数值，该数值如果不为“ 0”，按“﹀”键，直到该数值由大到小变到“0”为止。然后将探头放在裸基体的测试面上进行测试（注意，这里的裸基体一定要和实际被测物的材料和形状完全相同。不要使用随机配备的标准金属基块，那只能用来验证仪器本身工作是否正常，不能用来校正仪器）。可以测试几下，待仪器上显示的数值基本稳定后，按一下 “校正CAL”键，仪器的零点便校正完毕，它会显示一个新的数值。
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步骤二
接上一步骤，用第一个试片来校正。看一下仪器上显示的数值和随机配备最薄的试片的实际厚度是否一致，该片所标注的实际厚度在20μm左右。用“︿”或“﹀”键，使仪器上显示的数值和该试片的实际厚度值一致。然后将该试片平放在裸基体上，探头再压在上面进行测试，可以重复几次。待仪器显示的测量值稳定后，按一下“校正 CAL”键，第一个试片的校正结束，仪器又显示下一个校正片的厚度值。
步骤三
用步骤二相同的方法，只是所用试片要换成厚度 200μm左右的那一片。
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步骤四
依然和步骤二相同，但所用的试片要换成1200μm左右的那一片。到这个步骤的最后阶段，按一下“校正CAL”键，仪器屏上还会继续显示一个校正片的厚度值，如 “1999”，不用再做下去了，再按一下“校正CAL”键，校正便全部结束了。这时的仪器便可以进行高准确度的实际测量了。
在以后使用时，如果有必要，可以再次做上面四个步骤的校正。仪器会记住了上次的零点和每个试片的厚度值，这样就可以根据仪器提示，不用再修正试片厚度值，便能轻松完成各个步骤。