文档介绍：实验报告课程名称: 自动控制理论实验指导老师: 吴越成绩: 实验名称: 频率特性测量实验类型: 同组学生姓名: 鲍婷婷一、实验目的和要求(必填) 二、实验内容和原理(必填) 三、主要仪器设备(必填) 四、操作方法和实验步骤五、实验数据记录和处理六、实验结果与分析(必填) 七、讨论、心得一、实验目的 1. 掌握用超低频信号发生器和示波器测定系统或环节频率特性的方法; 2. 了解用 TD4010 型频率响应分析测试仪测定系统或环节的频率特性方法。二、主要仪器设备 1. 超低频信号发生器 2. 电子模拟实验装置 3. 超低频慢扫描示波器三、实验步骤 1 .测量微分积分环节的频率特性; (1) 相频特性相频特性的测试线路如图 4-3-1 所示, 其中 R 1 =10k Ω、C 1 =1uF 、R 2 =2k Ω、C 2 =50uF 。测量时, 示波器的扫描旋钮指向 X-Y 档。把超低频信号发生器的正弦信号同时送入被测系统和 X 轴,被测系统的输出信号送入示波器 Y 轴,此时在示波器上可得到一李沙育图形。然后将椭圆移至示波器屏幕中间,椭圆与 X 轴两交点的间的距离即为 2X 0,将 Y 输入接地, 此时得到的延 X 轴光线长度即为 2X m ,因此求得θ=sin -1 (2X 0 /2X m), 变化输入信号频率ω(rad/s) ,即可得到一组θ(ω) 。测量时必须注意椭圆光点的转动方向, 以判别相频特性是超前还是迟后。当系统或环节的相频特性是迟后时,光点为逆时针转动;反之超前时,光点为顺时针转动。测试时, ω取值应匀称,否则会影响曲线的准确度。(2) 幅频特性: 示波器选择停止扫描档, 超低频信号发生的正弦信号同时送入 X 轴和被测系统; 被测环节的输出信号仍送入 Y 轴;分别将 X 通道和 Y 通道接地,示波器上出现的两条光线对应的两条光线长度为 2X m、 2Y m ,改变频率ω,则可得一组 L(ω)。专业: 电子信息技术及仪器姓名: 杨泽兰学号: 3120102007 日期: 2014-5-24 地点: 玉泉教二-104 装订线 2. 测量二阶系统的闭环幅频特性: 二阶系统的方框图如右图所示。按图设计并连接实验线路, 依次改变输入信号频率( 按所取频率范围由低到高, 测试点自定, 但在谐振峰值附近应多测几点),测量并记录数据。五、实验数据记录和处理 1. 测量微分积分环节的频率特性: (1) 微分积分环节的传递函数为:G(s)=(s 2 +110s+1000)/(s 2 +610s+1000) (2) 测量数据为: (3 )相频特性图: ω(rad/ s) f2 mX 02X2 mY 实测θ(ω) 计算θ(ω)22 mmYX 实测 L(ω) 计算 L(ω) 光点转动方向 2 - - - - 逆 - - - - 逆 2 - - - - 逆 2 - - - - 逆 10 2 -3