频域滤波的高光去除方法.pdf

文档介绍：激光与光电子学进展
中国激光杂志社
50,051205(2013) Laser & Optoelectronics Progress ○C2013 《》
基于频域滤波的高光去除方法
柴玉亭王昭高建民黄军辉
1 2 1 2
西安交通大学机械制造系统工程国家重点实验室陕西西安
1 , 710049
西安交通大学机械工程学院陕西西安
(2 , 710049 )
摘要结构光三维测量广泛应用于测量物体外轮廓但使用这种技术测量金属零部件时会由于金属表面的局部
, ,
强反射形成高光区域,这种高光致使相机饱和、信息丢失,造成条纹中心提取不准确,从而产生较大的测量误差。
因此,寻找一种有效的手段来避免高光问题是非常必要的。基于结构光测量系统自身的特点,提出一种新的高光
去除方法———频域滤波法。该方法将高光视作噪声,通过对比分析漫反射光条和高光光条频谱分布的不同,制作
合适的滤波器以滤除高光通过软件仿真模拟高光效果测试频域滤波后的条纹中心提取精度比不滤除
。 3dsmax , ,
前提高将该方法应用于实际叶片测量中较好地解决了其中的高光问题仿真和实验均证明频域滤
。, 。,
波法可以在一定程度上降低高光对结构光条纹中心提取准确度的影响。
关键词测量结构光三维测量高光去除频域滤波条纹中心
; ; ; ;
中图分类号文献标识码
TH741 A doi:
Highlight Removal Based on Frequency-Domain Filtering
Chai Yuting1 Wang Zhao2 Gao Jianmin1 Huang Junhui 2
1 , ,
烄 State Key Laboratory for Manufacturing Systems Engineering Xi′an Jiaotong University 烌
Xi′an,Shaanxi 710049,China
2
烆School of Mechanical Engineering,Xi′an Jiaotong University,Xi′an,Shaanxi 710049,China烎
Abstract Three-dimensional (3D) measurement technique of structured light is widely used in objects′outline
,when it is applied to measure ponents and parts,some parts of intense reflection
(highlight or specular light)on the surface of ponents would form highlight intense reflected light can
D saturate and cause the extraction of center of light stripe urate,and then errors woul