文档介绍：: .
实验七移位存放器与其应用
一、实验目的
1. 掌握中规模4位双向移位存放器逻辑功能与使用方法0194〕X1四、实验容
1. 测试74LS194〔或CC40194〕的逻辑功能
按图4接线，即CR、S1、S0、SL、SR、D3、D2、D1、D0分别接至逻辑开关的输出插口；Q3、Q2、Q1、Q0接至LED逻辑电平显示输入插口。CP端接〔正或负〕单次脉ft*次
冲源输出插口。按表9-9-2所规定的输入状态，逐项进展测试。
«LED+W迎•电平具示携口j〜
_16IbI挽谭辑开美・出揪口
图4741S194逻辑功能测试
〔1〕去除：令CR=0,其它输入均为任意态，这时存放器输出Q3、Q2、Q1、Q0均为0。去除后，置CR=1。
〔2〕送数：令CR=S1=S0=1,送入任意4位二进制数，如D3D2D1D0=abcd,加CP脉冲，观察CP=0、CP由01、CP由lr0三种情况下存放器输出状态的变化，观察存放器输出状态变化是否发生在CP脉冲的上升沿。
〔3〕右移：清零后，令CR=l,S1=0,So=l,由右移输入端SR送入二进制数码如0100，由CP端连续加4个脉冲，观察输出情况，记录之。
〔4〕左移：先清零或预置，再令CR=l,S1=1,S0=0,由左移输入SL送入二进制数码如1111,连续加四个CP脉冲，观察输出端情况，记录之
表2
清除
模式
时钟
串行
»人
M出
功ik&a
S,
&
CP
Sl
1i
Q
X
X
X
X
X
XXXX
1
1
1
X
X
abed
1
0
1
t
X
0
XXXX
1
0
1
X
1
XXXX
1
0
1
X
0
XXXX
1
0
1
t
_x
XXXX
1
1
0
t
1
X
XXxx
1
1
0
t
1
X
XXXX
1
1
0
t
1
X
XXXX
1
1
0
1
X
XXXX
1
0
Q
*
X
X
XXXX
〔5〕保持：存放器预置任意4位二进制数码abcd,令CR=l,S1=S0=0,加CP脉冲,观察存放器输出状态，记录之。
2, 循环移位
将实验容1接线参照图2进展改接。用并行送数法预置存放器为某二进制数码〔如0100〕，然后进展右移循环，观察存放器输出端状态的变化，记入表3中。
表3
CP
QjQiQiQ)
0
0100I
——-
1
2
3
4
(不必做)
按图3连接实验电路。CR、S1、S0接逻辑开关输出插口，CP接单次脉冲源〔正脉冲〕由于逻辑开关的数量有限，两存放器并行输入端D3D2D1D。根据实验设备现有条件进展接线。两存放器的输出端接至LED逻辑电平显示输入插口。
(1)触发器置零
使74LS74的R由低电平变为高电平。
〔2〕送数
令CR=Si=So=1,用并行送数方