文档介绍：控制图
控制图——过程控制的工具。用来表示一个过程特性的图象。
它有两个基本用途:①用来判断过程是否一直受统计控制。
②用来帮助过程保持受控状态。
控制图的构成:
特性值
UCL:上控制线
CL:中心线
LCL下控制线
取样时间
收集: 收集数据并画在图上。
控制:根据过程数据计算试验控制线
识别变差特殊原因并采取措施。
分析及改进:确定普通变差的大小,并采取减少它的措施。
重复三个阶段,从而不断改进过程。
控制图的益处:
供正在进行过程控制的操作者使用。
有助于过程在质量上和成本上能持续地、可预见的保持下去。
使过程达到:
——更高的质量。
——更低的单件成本。
——更高的有效能力。
为讨论过程的性能提供共同的语言。
区分变差的特殊原因和普通原因,作为采取局部措施或对系统采取措施的指南。
第二章计量型数据控制图
第一节均值和极差图
参见“均值和极差控制图”
收集数据
子组大小:一般为4-5件(连续生产的产品的组合)。各子组样本应一样。
选择原则:一子组各样本间出现的变差的机会小。子组内变差主要由普通原因造成。
子组频率:应在适当时间收集足够的子组,能反映潜在的变化。过程处于稳定,频率可减少。(每班两次、每小时一次或其他频率)。
子组组数:≧25个。总单值≧100个。
控制图及记录原始数据:
X图绘在R图的上方。下面再接一个数据栏。
X和R值为纵坐标,时间为横坐标。
数据栏应包括:每个读数空间、读数、和、均值、极差以及日期/时间或其他识别子组的代码的空间等。
计算均值(X)和极差(R):
X=( X1+X2+…+Xn)/n R=XMAX﹣XMIN
X1,X2,…Xn——测量值。 n——子组容量。
控制图刻度;
对X图:坐标刻度最大值-最小值≧2(Xmax –Xmin)
对R图:坐标刻度最大值≧2Rmax
计算控制限:
平均极差(R)及过程平均值(X)
R=(R1+R+2…+RK)/K
X=(X+1X2+…+XK)/K
K——子组的数量。
计算控制限
UCLR=D4R UCLX =X+A2R
LCLR =D3R LCLX=X﹣A2R
D4, D3,A2 为常数。查表得。
绘制控制限的控制线:
R和 X绘成水平实线。
各控制限(UCLR ,LCLR,UCLX,LCLX)绘成水平虚线。
极差图(R)分析:
点:未超出控制限——过程稳定、受控。只有普通变差。
超出控制限——过程不稳定、不受控。存在特殊变差。
超出极差上控制限原因:
a. 零件间的变化性或分布的宽度已经增大(即变坏)。这种情况可发生在某点,也可发生在整个趋势的一部分。
(如:不同检验员或量具)
c. 测量系统无适当的分辨力。
。
链(线)
连续7点位于平均值的一侧。(高于平均极差值:输出值的分布宽度增加,原因无规律,如:设备不正常和原材料材质不均等。低于平均极差值:输出值的分布宽度减少。好的状态应研究推广。)
连续7点上升或下降。(上升:原因无规律,如:设备不正常和原材料材质不均等。下降:好的状态应研究推广。)
测量系统改变(新检验员或新量具)
明显的非随机布局图形:
一般2/3的点应落在控制限的中间1/3区域内,其他1/3的点应落在其外2/3区域内。(正常情况)
原因分析:(只要未出现超出控制限的点,对极差图中出现非随机布局图形,注意不要过分解释数据。)
如60%的点应落在控制限的中间1/3区域内,应调查:
·数据是否已被编辑;
·过程或取样方法被分层;
·控制限计算错误或描点错误。
如40%以下的点应落在控制限的中间1/3区域内,应调查:
·是否有两个或两个以上过程流的测量值(例如:输入材料批次混淆。)
·控制限或描点计算错误或描错。
识别并标识特殊原因:
对于每个数据进行标识,做一个过程操作分析,确定主要原因。并对改进过程的纠正措施进行解释,防止再发生。(并非所有特殊原因都是不利的!)
重新计算控制极限:
失控的原因已被识别和消除,可将已识别的数据点去掉,重新计算极差控制限。同时将X图中对应点去掉。
均值图(X)分析:
点:超出控制限的点——存在特殊变差。
·过程已改变;是一种趋势的一部分。
·某一独立事件(如:误操作等)
·测量系统发生变化。
·控制限计算错误或描点错误。
链:连续7点位于平均值的一侧——存在特殊变差。
连续7点上升或下降。——存在特殊变差。
·分析时应考虑开始出现变化趋势的时间。
·过程的均值已改变——也许还在变化;
·测量系统已改变(漂移、偏差、灵敏度等)
明显的非随机布局图形:
一般2/3的点应落在控制限的