文档介绍：不合格品率的P图
尽管控制图大多数情况都与计量型数据联系在一起,但也开发了用于计数型数据的控制图,计数型数据只有两个值(合格/不合格,成功/失败,通过/不通过,出席/缺席),但它们可被计数从而用来记录和分析。下面我们以不合格品率的p图为例来对计数型控制图加以说明
步骤
A. 收集数据
B. 计算控制限
C. 过程控制解释
D. 过程能力解释
,频率及数量
子组容量——用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量(例如50到200或更多)以便检验出性能的一般变化。
分组频率——应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。
子组数量——收集数据的时间应该足够长,一般情况下,也应包括25或更多的子组(见图21)
(p)
被检项目的数量——n
发现的不合格项目的数量——np
通过这些数据计算不合格品率:

描绘数据点用的图将不合格品率作为纵坐标,子组识别作为横坐标。(见图21)

描绘每个子组的p值,将这些点连成线通常有助于发现异常图形和趋势
当点描完后,粗览一遍看是否合理,如果任意一点比别的高出或低出许多,检查计算是否正确
记录过程的变化或者可能影响过程的异常情况,当这些情况被发现时,将它们记录在控制图的“备注”部分(见图21)
图21 不合格率P图---数据收集

对于k个子组,计算不合格品率的均值如下:
计算上下控制限( )
对于k个子组,按下式计算上下控制限:
注:当很小或者n很小时, 的计算结果有时会是负值,在这种情况下则没有下控制限(见图22-表1)

过程均值---------水平实线
控制限( )---------水平虚线
在初始研究阶段,这些被认为是试验控制限
注:当子组容量不同的时候,则要求单独计算这些特别小或特别大样本时期内的控制限(见图22-表2)
图 22 不合格率P图---计算控制限(表1)