文档介绍：品质可靠性测试标准
文件编号:QA-000-111
版本/状态:A/00
制定:品质管理部
审核:
批准:
试验周期：10天
测试目的：通过连续的施加各种测试条件，加速产品的失效，提前暴露潜在问题。
试验流程：见下图，其中完成环测后和跌落测试的时间间隔应不超过4小时。
品质可靠性测试标准
功能外观检查高温高湿测试低温参数试验灰尘试验
25℃60℃93%RH-20℃
射频测量跌落试验低温存储盐雾试验
25℃-30℃
跌落试验射频测量高温存储淋雨试验
25℃80℃
温度冲击功能外观检查高温高湿测试
-40℃/80℃60℃93%RH
湿热循环测试
-10℃/93%RH
A产品平均失效寿命测试组合（MTBF）
B环境测试
A：产品平均失效寿命测试组合：
样机数量：16台
功能外观检查
测试目的：测试预检查
测试方法：OQC功能外观检验标准进行检查
测试标准：符合《成品检验指导书》中所有的指标。
射频测量
测试目的：测试预检查
测试方法：使用8960/CMU200测试仪，参照《射频测试记录表》中项目列表，对所有样
品进行参数指标预测试并保存测试结果测试标准：《射频指标记录表》中所有参数指标正常。
跌落试验
测试条件：6cm厚水泥地板，；寸LCD为1m；
。
测试目的：跌落冲击试验
样机数量：16台
试验方法：将手机处于开机状态进行跌落。进行6个面的自由跌落实验，每个面的跌落次数为1次，每个面跌落之后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机，其中
品质可靠性测试标准
一半样品打开翻盖跌正面和背面(即跌8个面)；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置，跌正面和背面(即跌8个面)。跌落结束后对外观、结构和功能进行检查。
检验标准：手机外观，结构和功能符合要求。每跌完一个面进行拔号，应无掉网、关机等不良现象；拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按键功能，显示功能，触摸屏功能及灵敏度，拍照功能，SPK听筒声音应无异常。间隙张开，其它部件松脱后不借用其它工具用手可以复原的可接受，受力点有水泥沙大小的凹陷、掉涂层、划伤可接受。但涂层不允许有片状脱落、龟裂，掉电及掉SIM卡以微跌为准。掉电池盖不作为不合格项，以手感拆装为准。
温度冲击测试
测试环境：低温箱：-40℃；高温箱：+80℃
样机数量：16台
测试目的：通过高低温冲击进行样品应力筛选
试验方法：使用高低温冲击箱，手机带电池，设置成关机状态先放置于高温箱内持续
分钟后，在15秒内迅速移入低温箱并持续30分钟后，再15秒内迅速回到高温箱为一个循环，共循环24次。实验结束后将样机从温度冲击箱（高温箱）中取出，恢复2小时后进行外观、机械和电性能检查。对于翻盖手机，应将一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
试验标准：手机电性能指标满足要求，活动部件正常，壳件无形变，无龟裂，变色，无氧
化，麻点，脱层，缝隙断差变大（），装饰片及镜片起翘不均匀。IML材料高温存储温度为60℃作为允收标准。
高温高湿参数测试
测试环境：+60℃，93%RH
测试目的：高温高湿应用性能测试
试验方法：将手机电池充满电，手机处于开机状态，放入温度实验箱内的架子上。持续48H，在此环境下进行电性能检查。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样
品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
检验标准：手机电性能参数指标满足要求，时钟精准，存储信息无丢失，拨打过程中有无掉网、关机等不良现象；拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括
活动部件，按键功能，显示功能，触摸屏功能及灵敏度，拍照功能，SPK听筒声音，镜片和LCD内部、TouchLens内部无水印，水珠，功能正常，外壳无变形。
B：环境测试
样机数量：10台
低温参数测试
测试环境：-20℃
测试目的：高温/低温应用性能测试
试验方法：将手机电池充满电，手机处于开机状态，放入温度实验箱内的架子上，调节温
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