文档介绍：检测复合绝缘子伞裙老化的方法
检测复合绝缘子伞裙老化的方法
本发明公开了一种检测复合绝缘子伞裙老化的方法，包括以下步骤：选取复合绝缘子高压侧伞裙作为试样；对所述试样进行慢正电子束测量，得到随正电子入射能量分布的多普勒展宽谱；采集所述多普实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。
[0027]从材料科学的角度来说，材料的结构决定性能。复合绝缘子硅橡胶的性能与其化学组成、微观聚集体结构以及表界面状态等密切相关，硅橡胶绝缘子的老化失效也往往伴随着绝缘子微观结构的改变、化学成份的变化等，因此从结构特征变化角度来发展绝缘子老化失效的诊断和监测技术是可行的。
[0028]如图1所示，一实施方式的检测复合绝缘子伞裙老化的方法，包括以下步骤:
[0029]步骤S110，选取复合绝缘子高压侧伞裙作为试样。硅橡胶复合绝缘子又称合成绝缘子，其是由玻璃纤维环氧树脂引拔棒、硅橡胶伞裙和金具三部分组成。在本实施方式中，取一运行样，沿平行于复合绝缘子表面方向的切片作为试样，样品规格为2X2X Icm3,试样的表面无需任何处理。
[0030]步骤S120，对试样进行慢正电子束测量，得到随正电子入射能量分布的多普勒展宽谱。在一实施方式中，获取多普勒宽谱的具体操作为:
[0031]将试样放入慢正电子束样品仓内，进行基于慢正电子束的多普勒展宽谱测量，其中正电子的入射电压为0_25keV，正电子入射的面为复合绝缘子试样的外表面。
[0032]步骤S130，采集多谱勒宽谱的S参数。S参数是用来表征多普勒展宽，其是表示中心区域的峰计数与峰总计数之比。S参数的峰可定性表征试样的缺陷状况，当缺陷增多时，多普勒展宽曲线变窄，S参数增大。在一实施方式中，根据样品的表面状况，可收集到处于不同数值范围的S参数。
[0033]步骤S140，判断S参数是否在预设参数范围之内，若是，则复合绝缘子伞裙老化。当复合绝缘子发生老化时，其表面的化学成分会发生变化，老化层的S参数即为预设参数，其中，预设参数的获取可以根据已经发生老化的复合绝缘子进行慢正电子束测量得到。
[0034]在一实施方式中，当复合绝缘子发生老化时，其表面会有硅氧层形成，因此，老化层即为硅氧层。选择已经老化的复合绝缘子伞裙进行慢正电子束测量，获取此时复合绝缘子的老化层的S参数，即为预设参数。可以理解的是，选择的硅橡胶材料不同，预设参数的数值也会不同。在本实施方式中，老化层为硅氧层，其成分SiO2，测量得到的预设参数的数，这与文献中纯SiO2的S参数特征值相近。左右的，-，则说明复合绝缘子伞裙出现了老化现象。
[0035]在一实施方式中，确认复合绝缘子伞裙老化的步骤之后还有计算老化层厚度的步骤，具体操作为:
[0036]采集位于预设参数范围之内的S参数。在测量的过程中，测得的老化层的S参数的数值可能有多个，将这些S参数的数值收集起来。例如，如图2所示，在本实施方式中，位 -，收集这5个S参数的数值。
[0037]获取第一次出现在预设参数范围内的第一 S参数数值和最后一次出现在预设参数范围之内的第二 S参数数值。由