文档介绍：光敏电阻特性试验
一、 试验目的：
了解光敏电阻的光照特性、光谱特性和伏安特性等基本特性。
二、 基本原理：
1、光线的作用下，电子吸取光子的能量从键合状态过渡到自由状态，引起电导率的变化， 这种现象称为光电导效应。
2、光敏电阻特性试验
一、 试验目的：
了解光敏电阻的光照特性、光谱特性和伏安特性等基本特性。
二、 基本原理：
1、光线的作用下，电子吸取光子的能量从键合状态过渡到自由状态，引起电导率的变化， 这种现象称为光电导效应。
2、光电导效应是半导体材料的一种体效应。光照愈强，器件自身的电阻愈小。基于这种效应的光电器件称光敏电阻。
3、光敏电阻无极性，其工作特性与入射光光强、波长和外加电压有关。
三、 需用器件与单元：
主机箱、安装架、一般光源、各种滤光镜、 光电器件试验（一）模板 、光敏电阻探头、照度计模板、光照度探头。
四、 试验步骤：
1、亮电阻和暗电阻测量
光敏电阻试验原理图
调整光敏电阻工作电压：
亮电阻测试：
暗电阻测试： 试验结果：
分析：
一般状况下，有用的光敏电阻的暗电阻往往超过 1MΩ,甚至高达 100MΩ，而亮电阻则在几kΩ 以下，可见测量数据有效。
光照特性测试
光敏电阻的工作电压肯定时（5V），它的阻值（光电流）随光照度变化而变化。按表3-2 进行测量，作图 3-2.。
分析：
理论上，光敏电阻在弱光照下，光电流I 与光照度 E 具有良好的线性；在强光照下则为非线性。依据测试数据所画得的光照特性曲线较好地满足上述状况，说明试验操作精确。
伏安特性测试
光敏电阻在肯定的光照度下，光电流随外加电压的变化而变化
调整光源电压为 100Lx 时对应的电压值
调整光敏电阻工作电压的值读取相应的光电流
重复测试不同照度的伏安特性，将测量数据填入表3-3，并作图 3-3。
分析：
、由图 3-3 可知，在给定光照下，光敏电阻的阻值与外加电压无关，仅由光敏电阻本身性质打算，但是不同光照状况下的伏安特性具有不同的斜率，即光照强度不同，阻值不同。
、当光敏电阻承受的功率超过它本身的额定功率，曲线开头变弯，说明光电流趋向 饱和。
光谱特性测试
光敏电阻在肯定的工作电压时，在等能量、不同波长的光作用下，其阻值的变化是不同的， 即光电流大小不一样。本试验光功率以1mW 为标准，更换光源前端盖的滤光镜获得不同波长的光。将测量数据填入表 3-4，并