文档介绍：一种简易的低成本的测试方法
一种简易的低成本的测试方法
本发明公开了一种简易的低成本的测试方法，包括测试治具和测试板，在测试板同层面设计两条不同长度的被测传输线分别为命名为X1、X2，作为测试结构A、B，X1-X2的长度差至少要大于4i一种简易的低成本的测试方法
一种简易的低成本的测试方法
本发明公开了一种简易的低成本的测试方法，包括测试治具和测试板，在测试板同层面设计两条不同长度的被测传输线分别为命名为X1、X2，作为测试结构A、B，X1-X2的长度差至少要大于4inch，测试线的两端分别通过过孔连接到测试点；短线X2不能太短；通过传输线X1测得结构A的S参数包括：IL(A)=X1传输线损耗+2个PCB过孔损耗+探针损耗+测试治具不确定影响；通过传输线X2测得结构B的S参数包括：IL(B)=X2传输线损耗+2个PCB过孔损耗+探针损耗+测试治具不确定影响；计算测试结构A,B做差后每英寸的损耗公式：dB/inchloss=(IL(A)–IL(B))/(X2-X1)，通过此公式得到不同频点下每英寸传输线的损耗值。
【专利说明】一种简易的低成本的测试方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电子领域、信号量测领域及PCB LAYOUT设计。
技术背景
[0002]目前对于高速信号损耗测试一般采用VNA测试传输线S参数，而且在做测试板时要求很严格。为了测试的准确性，测试治具从探头，到CABLE都要求尽量精确。测试中会使用精确度较高的治具，例如微波探头GGB，成本很高，而且操作要求很严格，稍有不慎，就会损坏测试探头，需要运到美国原厂进行维修。采用AFR，TRL校准设计，对设计测试件和测量方法要求较高。所以测试成本高，测试周期长，测试难度大，这是对于板材损耗测试的一大弊端。需要找到一种成本低，容易操作的测试方法，并且能够保证测试的准确性。
【发明内容】
[0003]本发明要解决的技术问题是:一种简易的损耗测试方法。针对目前测试成本较高，并且测试方法复杂的情况发明的一种测试方法。
[0004]针对目前测试成本较高，并且测试方法复杂的情况发明的一种测试方法。一般测试传输线损耗测得的S参数是传输全通道的S参数特性，需要将线缆，探针，过孔去除掉，这样得到的才是传输线的损耗值。所以需要结合仿真将过孔等因素去除。
[0005]而使用本发明方法无需仿真去嵌，使用低成本的测试治具即可完成。
[0006]本发明所采用的技术方案为:
一种简易的低成本的测试方法，包括测试治具和测试板，在测试板同层面设计两条不同长度的被测传输线分别为命名为X1、X2，作为测试结构A、B，走线环境尽量一致，X1-X2的长度差至少要大于4inch，测试线的两端分别通过过孔连接到测试点；短线X2不能太短；通过传输线Xl测得结构A的S参数包括=IL(A)=Xl传输线损耗+2个PCB过孔损耗+探针损耗+测试治具不确定影响；
通过传输线X2测得结构B的S参数包括:IL(B)=X2传输线损耗+2个PCB过孔损耗+探针损耗+测试治具不确定影响；
计算测试结构A，B做差后每英寸的损耗公式:dB/inch loss = (IL(A) -1L(B)) /(X2-X1)，可通过此公式得到不同频点下每英寸传输线的损耗值。
[0007]所述测试治具结构包括金属部分的测试手柄，针状带有