文档介绍：一种微波器件阻抗测量校准方法
一种微波器件阻抗测量校准方法
本发明介绍了一种微波器件阻抗测量校准方法，该方法步骤包括：（1）通过直通校准件散射参数和延时校准件散射参数的实测数据计算延时传输线传输参数；（2）在原有延时校准件中嵌入新增加的【发明内容】
[0005]本发明要解决的技术问题是，针对TRL算法的测量带宽有限问题，提供一种改进的TRL校准方法，该方法基于现有测量数据，利用虚拟测量技术解决局部相位模糊难题，可减少延时校准件数量、简化TRL测量步骤和扩展TRL算法校准测量宽带。
[0006]本发明提供的微波器件阻抗测量校准方法，即一种改进的TRL校准方法，步骤如下:
第一步，计算延时传输线传输参数。测量直通校准件散射参数和延时校准件的散射参数，分别转换为传输参数，通过矩阵求逆、相乘运算和二次方程求解计算延时校准件中包含的延时传输线传输参数。
[0007]第二步,计算虚拟延时校准件的传输参数。利用第一步计算的延时传输线传输参数计算新增加的虚拟传输线的传输参数，通过矩阵求逆和相乘运算在原有延时校准件中嵌入新增加的虚拟传输线，得到虚拟延时校准件的传输参数。
[0008]第三步，计算微波器件去嵌入传输参数。已知直通校准件散射参数、反射校准件散射参数和第二步得到的虚拟延时校准件的传输参数，按照常规TRL校准方法提取测量夹具的校准系数，通过矩阵求逆和相乘运算得到微波器件去嵌入传输参数。
[0009]第四步，计算微波器件归一化散射参数。已知传输线特性阻抗和系统测量参考阻抗，对第三步得到微波器件去嵌入传输参数进行阻抗归一化变换，得到相对于系统测量参考阻抗归一化的微波器件传输参数，再经过等价变换得到微波器件归一化散射参数。
[0010]本发明的有益效果是:
，可以得到包含任意长度传输线的延时校准件传输参数，能有效解决工作频带超过8:1时带来的相位模糊问题，克服了测量频率过高或过低时校准件难以加工的问题，简化了校准件的个数，扩展了工作频带；
(一般50欧姆或75欧姆)严格相等，改进的TRL算法通过阻抗归一化变换技术弥补了传输线特性阻抗与系统测量参考阻抗的不一致性，可显著降低校准件的设计加工要求。
[0011]【专利附图】
【附图说明】:
图1为微波器件阻抗测量的校准方法对应的数据处理流程图。
[0012]【具体实施方式】:
为方便运算，去嵌入处理过程中校准件的散射参数均等效转化为传输参数进行计算，对于双端口微波器件，其散射参数和传输参数均为2X2矩阵，两者转换关系如下:
【权利要求】
，其特征在于:该方法包括步骤: 第一步，计算延时传输线传输参数，测量直通校准件散射参数和延时校准件的散射参数，分别转换为传输参数，通过矩阵求逆、相乘运算和二次方程求解计算延时校准件中包含的延时传输线传输参数；第二步，计算虚拟延时校准件的传输参数，利用第一步计算的延时传输线传输参数计算新增加的虚拟传输线的传输参数，通过矩阵求逆和相乘运算在原有延时校准件中嵌入新增加的虚拟传输线，得到虚拟延时校准件的传输参数；第三步，计算微波器件去嵌入传输参数，已知直通校准件散射参数、反射校准件散射参数和第二步得到的虚拟延时校准