文档介绍：一种位移传感器的检测电路的制作方法
一种位移传感器的检测电路的制作方法
本实用新型涉及一种位移传感器的检测电路，包括激励线圈，采集线圈，还包括电源电路至少具有第一芯片与第六芯片，用于为电路供电；激励信号产生电路，包括第二芯片与第三芯片，
[0017]采用了上述的技术方案，本实用新型提供的检测电路与现有技术相比，具有以下的优点和积极效果:本实用新型提供的检测电路可在磁性钢带尺上移动产生变化的磁场，读数头电路处理得到更加突出的移相信号，再经过单片机处理最终输出差分的TTL信号，可以广泛应用于各种机床，并且达到足够的精度，稳定性也极高，特别是不受电磁的影响。
【专利附图】
【附图说明】
[0018]图1本实用新型的电源电路图；
[0019]图2本实用新型激励信号产生电路图；
[0020]图3本实用新型的运放电路图；
[0021]图4本实用新型的CPU电路图；
[0022]图5本实用新型的输出电路图。
【具体实施方式】
[0023]下面结合具体实施例，进一步阐述本实用新型。应理解，这些实施例仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围。此外应理解，在阅读了本实用新型所述的内容之后，本领域技术人员可以对本实用新型作各种改动或修改，这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。
[0024]本实用新型的实施方式涉及一种位移传感器的检测电路，
[0025]包括线圈，所述线圈包括激励线圈(J6)，采集线圈；其中采集线圈包括第一采集线圈(T31)和第二采集线圈(T32)；
[0026]所示的电源电路，包括第一芯片(U43)与第六芯片(U5)，用于为电路供电；激励信号产生电路，包括第二芯片(U9)与第三芯片(U8)，用于产生激励信号，所述激励信号加载在所述激励线圈的两端；运放电路，包括第一运算放大器(U2A)与第二运算放大器(U2D)，用于放大第一采集线圈(T31)和第二采集线圈(T32) ；CPU电路，所述CPU电路包括第四芯片(U3),用于处理信号；输出电路,包括第五芯片(UlO),用于TTL信号的输出。第一芯片通常选用 LM1117MPX-33。
[0027]如图1所示，一种位移传感器检测电路的电源电路还包括第一电感(L41)在第一电容(C41)与第二电容(C42)之间,所述第一电感(L41)与第一芯片(U43)相连,所述第一芯片(U43)还与第一电阻(R92)及第三电容(C46)连接；所述第一电感(L41)还与第二电阻(R19)连接，所述第二电阻(R19)与第三电阻(R30)并联，所述第二电阻(R19)与第四电阻(R20)串联；所述第二电阻(R19)还与第六芯片(U5)连接，所述第六芯片(U5)与第五电阻(R21)，第六电阻(R32)并联，所述第五电阻(R21)与第六电阻(R32)互相串联，并与第四电容(C28)并联。所述第六芯片(U5)使用TL431AIDBZR。
[0028]如图2所示，一种位移传感器检测电路的激励产生电路还包括第五电容(C13)接地，所述第二芯片(U9)与第七电阻(R2)，第八电阻(R3)，第九电阻(R6)串联，所述第七电阻(R2)，第八电阻(R3)并联，所述第二芯片(U9)还与第六电容(C14)连接，所述第二芯片(U9)还与第十电阻(R5)，第十一电阻(Rl)串联，另与第十二电阻(R7)串联；