文档介绍：一种芯片烧录、测试设备的制作方法
专利名称：一种芯片烧录、测试设备的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种芯片烧录以及测试设备。
背景技术：
随着各种电子产品的增多，芯片的使用也越来越广泛，芯片出厂前的烧录测试已经成为生产的必一种芯片烧录、测试设备的制作方法
专利名称：一种芯片烧录、测试设备的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种芯片烧录以及测试设备。
背景技术：
随着各种电子产品的增多，芯片的使用也越来越广泛，芯片出厂前的烧录测试已经成为生产的必须步骤，，每次测试一个产品，效率低下；，需专人处理，人员要求较多；，易出错，数据保存不方便，不利于事后追溯。
发明内容有鉴于此，本实用新型要解决的技术问题是提供一种测试、烧录效果高、便于管理的芯片烧录、测试设备。为了解决上述技术问题，本实用新型采用如下方式实现一种芯片烧录、测试设备，该设备包括烧录电路，用于将数据烧录于芯片中；测试电路，用于测试烧录的芯片参数；服务器，向烧录电路传输烧录数据，并接收测试电路提供的测试参数，将测试参数与标准数据进行比较，并作出调整重新传输至烧录电路进行烧录；其中，烧录电路、测试电路与服务器之间通过传输数据线或无线传输信号连接，实现数据的传输。其中，所述的烧录电路以及测试电路均包括测试板、控制板，测试板连接测试负载，测试板通过控制板连接PC，通过PC控制测试动作。并且，所述的PC设置有网卡，网卡通过有线数据线或无线路由与服务器连接。而且，所述的测试板具有12个独立的测试通道。本实用新型服务器统一管理以及控制芯片测试、烧录的进行，与现有的手工方式相比，测试效率以及准确性更高，更便于管理，并且所需的人员也更少，适合于产品的批量生产。
图1为本实用新型实施例结构示意图。
具体实施方式
针对现有技术存在的缺陷，为了便于本领域技术人员理解，下面将结合附图对本实用新型的作进一步详细描述。如附图1所示，本实施例揭示的可芯片烧录、测试设备用于对芯片进行烧录、并同时进行检测校正，并将测试、校正数据进行保存，以便于后续查询，全部自动进行，效率高，保证了产品质量。在本实施例中，该设备包括烧录电路1、测试电路2以及服务器3。其中，烧录电路 1用于将数据烧录于芯片中，该电路包括测试板11、控制板12，测试板连接测试负载13，测试板通过控制板连接PC，通过PC控制测试动作。其中测试电路2用于测试烧录的芯片参数，该电路同样包括测试板11、控制板12，测试板连接测试负载13，测试板通过控制板连接 PC,通过PC控制测试动作。服务器3用于向烧录电路传输烧录数据，并接收测试电路提供的测试参数，将测试参数与标准数据进行比较，并作出调整重新传输至烧录电路进行烧录。并且，烧录电路1、测试电路2与服务器3之间通过传输数据线或无线传输信号连接，实现数据的传输。在本实施例中，在PC中设置有网卡，网卡通过有线数据线或无线路由与服务器连接。为了提高测试效率，测试板11具有12个独立的测试通道，可同时对12个芯片进行烧录、测试。以上所述实施例仅表达了本实用新型的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领