文档介绍：编号：CZGC-002
新材料与产业技术北京研究院
分析测试中心
下：
在样品光和参比光两侧都安装好标准白板。
选择【测量】菜单的【基线校正】项，并确认。
基线校正结束后，把样品光侧的标准白板更换为待测样品，并用样品压板固定。
选择【测量】菜单的【开始】项，开始样品光谱扫描。
6．2．2 漫反射测量（8°入射角，适用于光滑表面的漫反射测量）
整机自检正常进入后，整机自检正常后，对全波段（ 850-230nm）进行暗电流校正（0%R 校正），
过程请参考“ 6．2．1”中的“1.”，与之不同的是：
在“请在样品池参入黑挡块”的提示下，将样品光侧的标准白板装上，参比光侧的标准白板取下，
换上机随 配置的黑挡板。
暗电流校正后，在工作波段内做基线校正，过程请参考“ 6．2．1”中的“2.”基线校正。
基线校正结束后，把参比光侧的标准白板更换为待测样品，并用样品压板固定。
选择【测量】菜单的【开始】项，开始样品光谱扫描。
6．2．1 固体样品的透过率测量新材料与产业技术北京研究院
整机自检正常进入后，整机自检正常后，对全波段（ 850-230nm）进行暗电流校正（0%T 校正），
过程请参考“ 6．2．1”中的“1.”，与之不同的是：
在扫描参数设置窗口，光度方式选择 T%（透过率）；
在请在样品池参入黑挡块”的提示下，将样品光侧和参比光侧的标准白板装上，在参比光侧的入
光窗处，换上随机配置的黑挡板。
暗电流校正后，在工作波段内做基线校正，过程请参考“ 6．2．1”中的“2.”基线校正。
基线校正结束后，将待测样品用支架组夹住固定在积分球参比光的入射窗处。
选择【测量】菜单的【开始】项，开始样品光谱扫描。
6．3 积分球粉末样品的处理方法
用随机附带的玻璃棒将粉末样品压制到载物板上， 注意：压制粉末样品时要保证粉末