掠入射X射线衍射和散射实验技术及其应用.pdf.pdf

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掠人射射线衍射和散射实验技术及其应用
鱼

要对掠入射射线衍射和散射实验技术的原理、设备和近年的发展和应用进行了介绍
年,伦琴发现了射线,
末轰动物理学界的一件大事,也标志着现代物方法相比, 射线掠入射衍射
理学的开始,年,劳厄等人第一次实现了,或散射方法的最大优点在于可
铜晶体的射线衍射实验,这一实验同时证明以通过调节射线的掠入射角来调整射线
了射线的电磁渡性质和晶体的微观结构——的穿透深度,从而用来研究表面或表层不同深
,射线衍射成为晶度处的结构分布,如表面的单原子吸附层,清洁
体结构测定的主要工具】.人们普遍认为,晶体表面的重构,表面下约深度的界面结构
材料结构最可靠的数据来自于射线衍射研以及表面非晶层的结构等等.

,发行的一一谓,
卡片中,收集了不同晶体结构的粉末其中
射线衍射数据,成为物相测定的标准工具书. 。/,
由于射线在材料中的穿透深度为十几微; /,
量级,所以在一般情况下,射线方法探测的是
材料的体结构,对材料的表面和表层结构~
』式中是经典电子半径,是材料中电子的平
, 是射线的线吸收系数.
等少数几种方法之外,在其他用射线作探针上面的式表明, 射线在一般介质材料
的实验技术过程中,来自表面或表层的微弱信中的折射率均比略小,口值的大小为
~
实验技术中,表面测量是由光电子的逃逸深度大于是不同的,于是在可见光领域出现的内
来实现的. 全反射现象,在射线领域就表现为外全反射
年代末到年代初,随着同步辐射这现象,即当射线相对于介质表面的掠入射角
种强光源的出现和应用,人们开始利用射线小于某个临界值之后,射线不再进入介质,而
在材料表面的全反射现象来研究材料的表层结是全部反射出来吸收会使射线有一定损
, 射线的反射率
射临界角的掠入射角入射到材料的表面时, 迅速下降,,容

部的射线电场分布随深度急剧衰减,其指数占,.
衰减深度随入射角而改变,范围从几十埃到几
,只有表层中的原子参与射线年月日收到初稿,年月日收到修改
的相互作用,这样大大抑制了一般方法中存在稿.
卷年第期
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在掠入射情况下,可用平面波的简单情形射线电场只分布在由式决定的穿透深度内.

线的掠入射角小于介质材料的全反射角.≤的原子相互作用,产生的次级辐射或粒子就带
时,如果我们忽略材料的吸收即. 有材料的结构或成分信息,探测这些不同的次
则介质材料中垂直于表面方向上的波矢分量成级辐射或粒子,就形成了不同的实验方法和手
为“,如果
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