文档介绍：材料现代研究方法
张峻巍
第四章 X射线衍射方法的实际应用
本章内容
第1节点阵常数的精确测定
第2节物相的定性分析
第3节物相的定量分析
本章重点与难点
重点:
粉末衍射卡的组成和索引方法。
难点:
多物相的衍射花样的物相定性分析方法。
第一节点阵常数的精确测定
点阵常数:a, b, c及棱边夹角, ,
点阵常数的精确测定
任何一种晶体材料的点阵常数都与它所处的状态有关。
当外界条件(如温度、压力)以及化学成分、内应力等发生变化,点阵常数都会随之改变。
可是,这种点阵常数变化是很小的,通常在10-5 nm量级。
点阵常数的精确测定
精确测定这些变化对研究材料的相变、固溶体含量及分解、晶体热膨胀系数、内应力、晶体缺陷等诸多问题非常有作用。所以精确测定点阵常数的工作有时是十分必要的。
(一)点阵常数的测定
X射线测定点阵常数是一种间接方法,它直接测量的是某一衍射线条对应的θ角,然后通过晶面间距公式、布拉格公式计算出点阵常数。
以立方晶体为例,其晶面间距公式为:
(一)点阵常数的测定
根据布拉格方程2dsinθ=λ,则有:
在式中,λ是入射特征X射线的波长,是经过精确测定的,有效数字可达7位数,对于一般分析测定工作精度已经足够了。干涉指数是整数无所谓误差。所以影响点阵常数精度的关键因素是sinθ。
问题
在德拜谱线指标化一节中曾指出:利用多晶体衍射图像上每一条衍射线都可计算出点阵常数的数值,问题是哪一条衍射线确定的点阵常数的数值才是最接近真实值呢?