文档介绍：万方数据
变能量�湎叨嗥壮上穹椒ㄑ芯�‰陈平,韩焱,潘晋孝引言序列,同时研究多谱序列信息提取与融合技术,实现射线图像动态范围的扩展,完整地再现复杂结构件的内��某上裣低常�淠芰縓射线多谱成像方法有效地将系统动态范围扩展第�卷,第����月光谱学与光谱分析���������摘要常规固定能量的�湎叱上穹椒ǎ�杂诤癖〔钜齑蟮墓ひ蹈丛右煨喂ぜ��虺上裣低扯��段��限,易出现过曝光和欠曝光共存现象,信息缺失,成像质量差。为此提出研究变能量�湎叨嗥壮上穹椒ǎ�在常规的射线成像系统上,依据有效厚度与电压的匹配性改变�湎吖艿缪梗�袢〉荼涞缪瓜碌亩嗥淄枷�部结构信息。实验表明,相对于�了�叮�迪至烁丛咏峁辜�腦射线高动态成像。关键词�湎叨嗥壮上瘢桓丛咏峁辜�欢��段В槐涞缪梗挥行Ш穸�中图分类号:����文献标识码:��������痡.������������������湎逥�上袷悄壳敖舷冉�姆墙哟ノ匏鸺觳饧际酰�可以实现产品的疵病检测、内部结构分析、装配性能分析等质量检测工作�’�。然而,随着装备技术的发展,一些直接影响系统性能的关重部件逐渐成薄壁化、结构复杂化、材料多组元化等趋势��。而此类复杂异形工件在�湎叱上袷保�由于受射线转换效率以及光电转换效率限制,成像系统动态范围受限,同时由于射线透射方向上有效厚度�喽杂赬射线的衰减能力�浠�式洗螅��彻潭ǖ缪钩上衲J轿薹ㄊ�现在单一能量下对整个工件同时曝光成像,易出现过曝光和欠曝光共存现象,信息缺失严重,影响�成像质量和检测灵敏度��!�目前针对复杂结构件的射线检测,主要采用分区域透照方法:针对不同的检测部位设置不同的透照参数,进行透射成像,但是该方法主要是在人的主观能动性下完成的,易受人的主观感知影响,且不能在一幅投影中再现检测对象完整信息,从而会影响信息识别的有效性以及检测效率,不适宜工程化应用��5�且谰軽射线的衰减特性,�湎叩拇┩�能力主要由射线管电压决定,而射线管电流仅决定�湎咔�度。因而,要实现复杂结构件的射线检测,唯有通过改变射线源管电压,实现射线穿透力与有效厚度的匹配。中北大学电子测试技术国家重点实验室,山西太原����������收稿日期:�����。修订日期:�����基金项目:国家��计划�钅����������易匀豢蒲Щ�鹣钅�����,����,����,�����I轿魇∽匀豢蒲Щ�金项目�������,�����—�和山西省高等学校优秀创新团队支持计划资助作者简介:陈平,��年生,中北大学讲师���:�����.�������琋��,���—�������������
万方数据
一专知。么乞����������埂��辍#��么;/一���籌�����籪����/�行��蛱崛��畔⒌亩嗥兹诤�∑�贰��瑈�可⋯���一�甀����一������等效�律湎咄枷窕叶取8檬街杏捎诔跏记慷菼��和衰减�硼��砒�的最大有效厚度,则可以�N;�祝�存σ�,序列���光谱学与光谱分析第�卷提出了变能量�湎叨嗥壮上穹椒ǎ�梅椒ㄍü�袢〔�同电压下的射线图像序列,再通过图像特征提取及融合,扩展动态范围,实现复杂结构件的�湎呒觳狻>咛宄上裨��如图��尽�依据该成像原理,随着管电压的递增,逐渐在对应的射线图像中表征有效厚度较大的成像区域,其余区域以过曝光和欠曝光现象表征为无效区域。因此针对检测对象有效厚