文档介绍：一、毕业设计(论文)课题来源、类型
来源:科研课题
类型:科研论文
二、选题的目的及意义
测试验证是数字集成电路设计中一个非常重要的环节,一般一个复杂的芯片从设计到封装成型,测试将占用百分之七十的时间。即使投入这么长时间测试,芯片也不可能100%的测试通过。因此,一种能花费最短时间,并且能最大限度测试出芯片中设计错误的测试方法对于集成电路设计行业的重要性不言而喻。基于功能覆盖率的测试方法就是一种可信性比较高的测试方法。主要测试浮点和定点的功能部件。
浮点和定点的功能部件作为视频处理芯片中数据吞吐量最大的部件,其稳定性非常重要。就功能部件本身而言,它会遇到很大数量的数据崩塌点。世界著名的半导体公司Intel就曾今因为浮点部件的错误没有测试出来而被大量召回,造成很大损失。可见,视频编码芯片中功能部件是核心,而功能部件的测试,则是这个核心中的最重要的一个零件。
三、本课题的研究状况及发展趋势
随着微电子制造加工技术的发展, 芯片的集成规模越来越大, 系统级芯片的集成度早已跨过百万门级的规模。另外市场对于电子产品的更新换代要求反而更快, 对于系统级芯片的设计周期往往要求能够缩短至一年以内。因此迫切要求提高设计的生产效率。而当前在芯片的设计过程中验证已经成为开发过程中占用人力资源最多, 耗费时间最长的部分。按照以前那样用手工编写测试代码的方法, 只能为小规模电路的芯片设计服务, 只能达到比较低的测试覆盖率, 不论从验证的效率, 或是从验证效果方面考虑, 都远远不能满足系统级芯片的设计要求。
四、本课题主要研究内容
功能覆盖率简单地说是一个比例数据, 指芯片中已验证过的功能占该芯片全部功能的百分比。只有当芯片中所有的功能都被验证为正确时才能保证流片的成功, 验证工作的目标就是尽量使功能覆盖率达到100%。想要提高验证工作的效率, 就必须在尽可能短的时间内, 尽可能多地提高功能覆盖率。
传统的验证过程由于缺少自动地统计当前功能覆盖率的机制, 大大地限制了它的能力, 只能说它使用了初级的功能覆盖率模型。为了适应当前的芯片的规模和复杂度, 我们需要一种新的针对功能覆盖率的验证过程, 在这个新的验证过程中, 对当前功能覆盖率进行自动统计的机制是必不可少的。新的针对功能覆盖率的验证过程。在这个新的验证过程中, 与传统的验证过程不同的地方在于: 它实现了一个能够自动统计功能覆盖率的模型。通过该模型, 可以方便地得到当前的功能覆盖率, 并根据它调整验证策略, 以尽快地达到100%功能覆盖率。
除了对功能覆盖率的了解外,还应掌握IEEE754标准。
IEEE754标准,即1985年二进制浮点算法的IEEE标准(通常简称为IEEE754标准)。IEEE754制定的规则如下:
:最简单的运算可能产生不可描述的作为有限部分的恰当结果;
如无限重复小数不能够精确写出。IEEE754允许使用在四个选择之间选择向上舍入、向下舍入、向零舍入或者舍入到最近点。舍入的结果是由假设以无穷精度计算的结果,然后舍入得到的。当无穷的精度结果正好是在两个可描述的数值之间的时候,应该拾取最低有效位是零的数值。
。一个运算能够产生的结果是:
——无意义,如-1的平方根( “无效”)
——“无穷”,是显式或隐式的被0除的