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TTL与非门逻辑功能测试.doc

上传人:中国课件站 2011/8/29 文件大小:0 KB

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文档介绍

文档介绍:实验 TTL与非门逻辑功能测试
一、实验目的


二、实验设备
5VDC电源、面包板、数字万用表、导线若干、逻辑电平指示器一组、逻辑开关一组、4输入端双与非门(74LS20)、双输入端四与非门(74LS00)
三、实验内容及要求

(1)画出实验电路图,设计实验表格(包括输入端的各种逻辑状态、输出端的逻辑状态及电平)。
(2)搭试电路验证,用万用表测量输出电压。
、或、或非门电路(均为2输入端)
(1)写出逻辑表达式,画出实验电路图,标明各管脚;(2)搭试电路进行验证;(3)列状态表验证结果。

(1)写出逻辑表达式,画出实验电路图;(2)搭试电路进行验证;(3)列状态表验证结果。
四、思考题
“1”是否是指电平为1V?
,没有1KΩ限流电阻行不行?为什么?
,没有300Ω限流电阻行不行?为什么?
五、附录

如图1所示,利用1kΩ电阻作为限流电阻,电键作为逻辑值输入(当电键按下,相对应的端子输出逻辑值“0”;当未按下电键,输出逻辑值为“1”)。

图1 逻辑开关电路原理图
图2 逻辑电平指示器

为了便于检验逻辑电路的输出逻辑值,我们采用发光二极管电路来检验逻辑电平的高低。如图2所示,当某输入端为低电平时,对应的发光二极管不亮;当某输入端为高电平时,对应的发光二极管亮。

如图3所示,分别为74LS20及74LS00芯片外引线排列图。
图3 芯片外引线排列图