文档介绍：量子效率测试系统等设备技术参数
一、量子效率测试系统技术要求
1. 整套系统要求模块化设计,方便灵活搭建以及后续的性能升级;
2. 光谱分光范围250-1800nm,可用于测试的外部量子效率,内部量子效率和反射率。
3. 系统分光的波长精度:不低于1nm; 系统分光可重复度好于:± nm ;
4 系统提供连续可调的单色光源。
需包括电动滤波轮以及至少4个长通道滤波片、提供至少双光栅的单色仪、数据采集和控制软件;以及氙灯光源。
5. 氙灯光源:功率≥300 W,要求功率连续可调。
6. 软件要求:实现测量速度可调节,波长间隔可控,软件可实现波长-信号,光功率,外量子效率,透射比,光吸收,时间间隔,背景光屏蔽等多种功能和应用
7. 双通道电流表指标要求:
采样频率好于250KHz;pw级的测量精度;分辨率:%的分辨率;± % for CW的准确度
8. 电流表配套硅探头要求:
测量波段:200-1100 nm,最大测量功率:200 mW 测量线性度:±%; 测量均匀度:好于±2 %;探测头材料:UV SI; 测量探测面积:好于 1cm2; 要求测量NIST可追溯
9 配件要求齐全:提供必要的光学支架、安装转换螺丝以及一体式暗箱,提供暗箱测试环境;提供不小于900 x 1500 x 58 mm规格的光学面包板。要求系统的独立和完整性好。
10. 系统接口要求:USB接口;
11. 必须与太阳光模拟器匹配使用
二、太阳光模拟器技术要求
1. 灯的类型及要求:氙灯光源,功率:至少450W.
2. 输出光斑面积:2х2nch;
3.
4. 模拟器光均匀度≤2 %,需符合IEC,JIS and ASTM所规定的A级别光斑均匀度标准。需提供测试报告。
≤% STI , ≤% LTI;需符合IEC, JIS and ASTM所规定
的A级光波动性的标准。需提供测试报告。
:— JIS C and ASTM