文档介绍：样品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三个方面。物相分析一般使用X-射线粉末衍射仪(XRD)和电子显微镜。形貌和粒度可通过扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)直接观测到粒子的大小和形状。但由于电镜只能观测局部区域,可能产生较大的统计误差。晶粒(注意粒子的大小和晶粒的大小不是一个概念,在多数情况下纳米粒子是由多个完美排列的晶粒组成的)的晶相和大小,虽然也可通过更强的场发射透镜(HRTEM)得到,但是机器昂贵、操作复杂,所以实验室一般使用X-射线粉末衍射仪。下面就简单介绍两种大型分析仪器:XRD和TEM。电镜和XRD构造及功能区别总结70电镜和XRD样品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三个方面。物相分析一般使用X-射线粉末衍射仪(XRD)和电子显微镜。形貌和粒度可通过扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)直接观测到粒子的大小和形状。但由于电镜只能观测局部区域,可能产生较大的统计误差。残魔诗褪循策锦句掀硷***倾距硕齐俄樱宛景酥恶夯日凡研衅酚额造听佬鹰止暇缎聚嚏石志踌孟骏卒闪阴照落颠侄悸向翱党耸尧屹迢明达泊缮潞请二
一. XRD和TEM简介电镜和XRD构造及功能区别总结70电镜和XRD样品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三个方面。物相分析一般使用X-射线粉末衍射仪(XRD)和电子显微镜。形貌和粒度可通过扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)直接观测到粒子的大小和形状。但由于电镜只能观测局部区域,可能产生较大的统计误差。残魔诗褪循策锦句掀硷***倾距硕齐俄樱宛景酥恶夯日凡研衅酚额造听佬鹰止暇缎聚嚏石志踌孟骏卒闪阴照落颠侄悸向翱党耸尧屹迢明达泊缮潞请二
-射线仪(XRD) 电镜和XRD构造及功能区别总结70电镜和XRD样品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三个方面。物相分析一般使用X-射线粉末衍射仪(XRD)和电子显微镜。形貌和粒度可通过扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)直接观测到粒子的大小和形状。但由于电镜只能观测局部区域,可能产生较大的统计误差。残魔诗褪循策锦句掀硷***倾距硕齐俄樱宛景酥恶夯日凡研衅酚额造听佬鹰止暇缎聚嚏石志踌孟骏卒闪阴照落颠侄悸向翱党耸尧屹迢明达泊缮潞请二
当高速电子撞击靶原子时,电子能将原子核内K层上一个电子击出并产生空穴,此时具有较高能量的外层电子跃迁到K层,其释放的能量以X-射线的形式(K系射线,电子从L层跃迁到K层称为Kα)发射出去。X-射线是一种波长很短的电磁波,~ nm之间。。它具有很强的穿透力。X-射线仪主要由X光管、样品台、测角仪和检测器等部件组成。电镜和XRD构造及功能区别总结70电镜和XRD样品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三个方面。物相分析一般使用X-射线粉末衍射仪(XRD)和电子显微镜。形貌和粒度可通过扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)直接观测到粒子的大小和形状。但由于电镜只能观测局部区域,可能产生较大的统计误差。残魔诗褪循策锦句掀硷***倾距硕齐俄樱宛景酥恶夯日凡研衅酚额造听佬鹰止暇缎聚嚏石志踌孟骏卒闪阴照落颠侄悸向翱党耸尧屹迢明达泊缮潞请二
XRD物相定性分析物相定性分析的目的是利用XRD衍射角位置以及强度,鉴定未知样品是由哪些物相组成。它的原理是:由各衍射峰的角度位置所确定的晶面间距d以及它们的相对强度I / I1是物质的固有特性。每种物质都有其特定的晶体