文档介绍：SPC(Statistical Process Control)
统计制程管制
有反馈的过程控制模型
过程的呼声
统计方法
人
我们的工的
方式和资源的
融合
设备
顾客
材料产品和服务
方法
识别不断变化
的需求和期望
环境
ΔΔΔ
输入过程/系统输出
顾客的呼声
:
通过对制程产品特殊特性的动态的控制,使产品的不良或即将发生的不良得到预先防止。(以前品质控制为静态控制,以进行批量的检验为主,但现代生产中有许多仪表仪器是随时反映过程参数,出这些仪器控制外,SPC是最好的动态控制方法,如股票分析的走势图)
:
计
量
型
数据
X-R 均值和极差图
计
数
型
数据
P chart 不良率管制图
X-δ均值和标准差图
nP chart 不良数管制图
~X-R 中位值极差图
C chart 缺点数管制图
X-MR 单值移动极差图
U chart 单位缺点数管制图
: (数据)
计量数据计数数据
n≧2 n=1 不良数缺点数
x取平均值 x取中位值 n=c n变化 n=c n变化
X-MR
n≧10 N=2-6 ~X-R np p c u
X-δ X-R
(X-R)
(以样本容量恒定的子组形式报告,子组通常包括2-5件连续的产品,并周性期的抽取子组。)
选择子组大小,频率和数据
:一般为5件连续的产品,仅代表单一刀具/冲头/过程流等。(变差小)
:在适当的时间内收集足够的数据,这样子组才能反映潜在的变化,这些变化原因可能是换班/操作人员更换/材料批次不同等原因引起。
对正在生产的产品进行监测的子组频率可以是每班2次,或一小时一次等。
:子组越多,变差越有机会出现。一般为25组,首次使用管制图选用35 组数据,以便调整。
建立控制图及记录原始数据
计算每个子组的均值(X)和级差R
对每个子组计算:X=(X1+X2+…+Xn)/ n (n表示子组容量)
R=Xmax-Xmin
选择控制图的刻度
:对于X图,坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应至少为子组均值(X)的最大值与最小值的差的2倍,对于R图坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应为初始阶段所遇到的最大极差(R)的2倍。
注:一个有用的建议是将R图的刻度值设置为X图刻度值的2倍。
将均值和极差画到控制图上
计算控制限:(首先计算极差的控制限,在计算均值的控制限)
计算平均极差(R)及过程均值(X)
R=(R1+R2+…+Rk)/ k(K表示子组数量)
X=(X1+X2+…+Xk)/ k
计算控制限:
UCLx=X+ A2R UCLR=D4R
LCLx=X- A2R LCLR=D3R
A2,D3,D4为常系数,决定于子组样本容量
n
2
3
4
5
6
7
8
9
10
D4
D3
A2
在控制图上以虚线作出均值和极差控制限的控制线
极差图上的数据点分析
:
出现一个或多个点超出任何控制限是该点处于失控状态的主要证据,应分析。
超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种:
控制限计算错误或描点时描错
零件间的变化性或分布的宽度已增大
测量系统变化(如:不同的检验员或量具)
有一点位于控制限之下,说明存在下列情况的一种或多种
分布的宽度变小(变好)
测量系统已改变(包括数据编辑或变换)
链----有下列现象之表明过程已改变或出现某种趋势:
连续 7点在平均值一侧或7点连续上升或下降
高于平均极差的链或上升链说明存在下列情况之一或全部:
输出值的分