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超大规模集成电路可调试性设计综述陈天石’陈云霁诚’,仅靠传统的硅前验证已经无法保证现代超大规模复杂集成电路设计验证的—疍摘要随着硬件复杂度的不断提高和并行软件调试的需求不断增长,可调试性设计已经成为集成电路质量,,并行程序的调试非常困难,很多细微的薹ㄖ苯佑么车牡ゲ健⒍系愕确椒ń械魇裕计算机研究与发展中国科学院计算机系统结构重点实验室北京中国科学院计算技术研究所微处理器技术研究中心北京中国科学院研究生院北京一/—/..ǎ珻,В琣珻鞍裷噕駀,駁挖,鮥—,,——.,,瑃—﹊.瑂猳猼—.;—~,.—;瑆一卜;国家自然科学基金项目收稿日期:;修回日期:一一基金项目:“核高基”国家科技重大专项基金项目一盯竹錳￡已“,銹Ⅱ祍“竹,,,.“譒口￡’瑄￡,。,,,,
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可调试性设计简介傻魇孕陨杓平饩龅奈侍庖约鞍个组成部分导致保证硬件和软件设计正确的重要步骤——调试构设计研究中的热点问题及其产生根源,⒍系愕要耗费大量的人近几年的统计,平均每款芯片需要%,如果事先加入可调试性设计,可以帮助硅后验证更好地了解设计内部的状态,更有针类方法不同,将可调试性设计模块加入电路中是可调试性设计的重要特点之一,,以及最新的可调试设计系统的结构设计,⒋娲ⅰ压缩和导出;然后我们在第诮樯芰丝傻魇孕陨计用于解决并行程序调试问题的确定性重放设计,,并在此基础上对可调试性设计发展趋势进行了硅后调试问题的基础是有效率地从实际芯片中如果没有专门的硬件支持,,在此基础上归纳总结了可调试性设计技术的主要研究方向并介绍了各个方向的研究进展,深入探讨了可调试性结随着硬件和软件技术的发展,复杂度越来越高,,一方面,硬件集成度的提高,新的体系结构的出现,尤其是多核系统的出现,导致单独依靠传统的硅前验证—薹ūVび布杓频恼沸裕罱氖据显示,仍然有许多错误在芯片流片后甚至投入市场后被发现,为了使这些错误在芯片推向市场前得到解决,这些流片后存在的问题需要通过硅后验证手段来发现硪环矫妫谟布啥取⒏丛佣忍高的同时,软件的集成度、复杂度也随之提高,尤其致现在软件调试的复杂度大大提高,仅依靠传统的力物力,这就急迫地需要硬件支持,从而通过软硬件协作来完成并行程序、,,,居糜诠韬笱橹さ某杀窘咏设计的A颂岣吖韬笱橹さ牡魇孕剩壳学术界和工业界有很多不同角度的研究,可调试性设计猟瞧渲械囊桓鋈鹊悖晨调试性设计包括种类繁多的方法和工具,例如约束等,这些工具和方法可以给调试带来极大便利,将其用于硅后验效地定位错误,,使错误能被很容易地精确定位,同时获得各种灵活的调试功能,:一个是解决并行程序调试的确定证的数据竞争冲突检测提高叮本文介绍了可调试性设计系统包括的鲎槌基础上进一步介绍了可调试性设计的热点应用,即保证并行程序正确的确定性重放、数据冲突检测硬点,皆指出了面临的主要问题、,,由于可调试性和最重要部分,因此,本文首先花了比较大的篇幅对念;第诮樯芰丝傻魇孕陨杓频募钢种饕=峁梗坏以及用于解决数据冲突验证的硬件自动检测设计这硅后调试面临的问题关键词调试;验证;硅后验证;并行程序调试;可调试性设计是随多核而越来越普及的并行技术、多线程技术导检查⑸,中图法分类号●‘
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挥糜诨袢⌒藕挪⒋ǖ莞藕欧治瞿?椋!D诓堪髦肿刺孕藕沤——接收内外的控制信息,控制整个——存储需要记录的信息;!=ǜ髦值魇孕陨杓颇?榱=釉谝黄鸬抽象信号进行分析,对于边界条件