文档介绍：重庆大学硕士学位论文中文摘要
摘要
基于边界扫描的内建自测试技术在诸如电子系统、电路板、集成电路的生产测
试过程中有着广泛的应用。它们对缩短产品的综合生命周期成本有着重要的意义。
随着集成电路的集成度和生产工艺水平的不断提高,使在一个半导体芯片上实现
系统级的集成已成为可能,数字电子技术已进入片上系统(System on a Chip)时代。
与此同时,片上系统的测试问题也随之产生,基于边界扫描的内建自测试技术为
片上系统的测试提供了新的解决方案。
本文在分析边界扫描测试技术的基本原理和 标准的基础上,在
FPGA 上实现了一种基于微处理器控制的适合在线自测试的嵌入式边界扫描内建
自测试模块。并针对嵌入式目标跟踪系统在硬件上要能满足一定可靠性的要求,
将设计的边界扫描内建自测试模块融入硬件设计中,来提高系统的可靠性和可测
性,实现对嵌入式目标跟踪系统的故障检测和诊断、故障屏蔽冗余和系统重组与
恢复的功能。跟踪系统包含 Nios 处理器系统、图像采集和显示模块、外部通信模
块等,硬件电路的验证在 Altera 的 FPGA 开发板上完成,利用 Nios 处理器来完成
主要的跟踪算法。基于边界扫描的内建自测试系统模块包含 Avalon 总线接口、FIFO
接口、CRC 校验等模块,通过它们和 Nios 处理器系统进行数据交互,完成一定的
测试功能。测试系统通过 JTAG 接口和并行接口与 PC 机端的主控程序进行通信。
主控程序负责控制测试系统的工作,完成数据的读入读出。测试系统可以在主控
程序的控制下工作,也可以利用 Nios 处理器和保存在片上 RAM 中的测试程序完
成自测试功能。
本文针对嵌入式目标跟踪系统的测试问题,利用基于边界扫描的内建自测试技
术实现了一种较好的解决方案。实验结果显示,测试系统能够完成预定的测试功
能,对片上系统的测试具有一定的参考价值。
关键词: 边界扫描,内建自测试,Nios 处理器,Avalon 总线,片上系统
I
重庆大学硕士学位论文英文摘要
ABSTRACT
Boundary-Scan-based Built-in-Self-Test technology is widely used for digital
system,board level,and IC manufacturing test is important for reducing
the cost of the entire product life cycle,not just the production the
development of IC density and the technology of manufacturing,it is posible for
packaging all the necessary electronic circuits and parts for a "system" on a single
integrated circuit,digital system has came into the age of System-On-
the testing of SOC e more difficult plex,Boundary-Scan-based
Built-in-Test technology give a new solution.
This Thesis construe the fundamental principle of Boundary-Scan test technology
and the IEEE Std ,implement one embedded Boundary-Scan Built-in-self-Test
model that is based on the microprocessor,and can be used for On-Line meet
the need of reliability in hardware for the embedded-tracking system,use the embedded
test model to enhance the reliability and testability of the entire tracking system, realize
the function of fault d