文档介绍：摘要第三、,集成电路行业得到了飞速的发展,各种超大规模集成电路相继问世。这些品种繁多的,不仅功能各异、工作速度快,而且管脚数目几乎完全不同。这就增加了的测试难度。为了实现同机测试多种的功能,必须研发速度快、功能强、测试管脚多的自动测试系统。:诵牟考功能测试用图形发生器的原理及其优势。本文通过对并行运算和并行计算机的分析,,⑿蟹桨福⒍圆煌姆桨缸髁吮冉纤得鳌A硗本文还比较详细的分析比较了常用的存储器测试算法,简要分析了测试生成算法。本文分如下五个部分进行阐述:第一、叙述并行计算和并行计算机,介绍并行计算机的发展、并行算法及其衡量标准、并行处理系统的分类。第二、叙述存储器的功能测试。根据存储器的结构,分析故障产生原因;介绍存储器测试的常用测试图形;最后给出仿真试验结论。资源,给出并行方案。第四、叙述的功能测试。主要介绍自动测试系统的发展和测试生成算第五、根据自动测试系统的实际需求,:诵牟考腣δ懿馐杂猛夹畏⑸鞯氖迪方案。关键词:并行:数字信号处理器:功能测试;超大规模集成电路法。
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弛吼幽贾黄冢厚怪痢5笋—■一独创性声明关于论文使用授权的说明本人声明所呈交的论文是我个人在导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。尽我所知,除了文中特别加以标注和致谢的地方外,论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果,也不包含为获得北京工业大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均己在论文中作了明确的说明并表示了谢意。签名本人完全了解北京工业大学有关保留、使用学位论文的规定,即:学校有权保留送交论文的复印件,允许论文被查阅和借阅:学校可以公布论文的全部或部分内容,可以采用影印、缩印或其它复制手段保存论文。
第滦髀课题背景一器件的测试图案,就是测试生成算法要研究的问题叽关于测试生成算法的研年公司生产出了第一块集成电路,对电子技术的发展产生了革命性的推进作用。随着人们对集成电路性能要求的不断提高,微电子技术的不断发展,集成电路的集成规模也越来越高,出现了超大规模集成电虺芕。在的生产过程中对产品的功能进行测试是一个必不可少的环节。同样,在的使用过程中也常常需要对其功能进行测试。因此,对功能性测试方面的研究就十分必要,如何对的功能进行高效测试也就成了一个重要课题。目前,在集成电路的设计生产过程中,测试成本已经成了一个不可回避的问题,在某些系统级芯片的设计中测试成本已占最大部分。传统的一片对应一台测试机的方式变得越来越没有经济性。而数字电路内置自检,简称际踉蛞蛭I杓贫钔獬杀咎ǜ摺⒉馐越峁收细哺锹实停τ面也非常有限。因此人们提出了通用集成电路自动测试系统的概念,试图使用一台测试机来测试尽可能多的器件。要对进行测试,就需要相应测试向量或者测试序列,如何产生针对某究一直都没有停止过,从最早的惴ǖ浇诘幕谌斯ぶ悄堋⑸窬纭⒛糊理论等新思想的算法,各种算法层出不穷。存储器是最常用的器件之一,也是中比较特殊的一类。存储器的测试方法也与其它集成电路的测试不同,这是由存储器的硬件结构决定的。存储器的中每一个存储单元的改变都可能影响到其它存储单元。这种相关性使得存储器的全面测试变得非常复杂。实际应用中要根据存储器的结构特点来对这些存储状态进行选择。因此,存储器测试的算法主要是找到一些能有效检测存储器存储功能的图形。对一个有龃娲⒌ピ5拇娲⑵鳎馐酝夹伟此惴ǜ丛佣瓤梢苑治狽型算法测试图形,型算法测试图形,也型算法测试图形,型算法测试路图形等。.
测试研究的国内外研究现状诊断领域内非常活跃的研究课题吵早期提出的算法包括惴ā算法、目前,发达国家的测试图形发生器的工作速度数量级在百兆。国内对测试系统的研究长期不被重视,相对比较落后。目前我国自主研制的存储器测试用图形发生器大多只能产生单一的测试图案,多数不能够通过编程对其改进,且速度很慢,非常不适应我国微电子、集成电路工业的发展。现在,酒丫被广泛应用,它具有很高的并行计算和疧能力,因此利用咚偾铱杀喑的特性,可以开发性能较好的测试系统。目前,的测试是国外微电子行业的研究热点之一。集成电路测试涵盖了很多专业,包括微电子、数学、计算机等等,是一门交叉学科。测试主要包括两方面的内容:自动测试系统和测试生成算法。在硬件方面,自动测试系统的发展非常迅速,从早期的美国仙奄公司生产型全自动集成电路测试系统算起已有年的历史。这些年来出现了三代自动测试系统第一代自动测试系统:通过硬件逻辑电路编程;第二代自动测试系