正畸投影测量.pptx

文档介绍：X线头影测量11X线头影测量是测量X线头颅侧位定位片所得的影象,对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去X线头影测量的主要应用1、研究颅面生长发育2、牙颌、颅面畸形的诊断分析3、确定错合畸形的矫治设计4、矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化5、外科正畸的诊断和矫治设计描图软硬组织侧貌、上下颌骨轮廓、颅底颅后部轮廓、筛板、蝶鞍轮廓、蝶骨斜坡、翼上颌轮廓、枕骨大孔前缘、枢轴齿状突、眶侧缘和下缘、上下中切牙和上下第一恒磨牙常用的x线头影测量标志点8389