文档介绍：X线头影测量
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正畸投影测量
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正畸投影测量
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X线头影测量是测量X线头颅侧位定位片所得影象，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬组织结构，使对牙颌、X线头影测量
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正畸投影测量
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X线头影测量是测量X线头颅侧位定位片所得影象，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬组织结构，使对牙颌、颅面检验、诊疗由表面形态深入到内部骨骼结构中去
正畸投影测量
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X线头影测量主要应用
1、研究颅面生长发育
2、牙颌、颅面畸形诊疗分析
3、确定错合畸形矫治设计
4、矫治过程中及矫治后牙颌、颅面形态结构改变
5、外科正畸诊疗和矫治设计
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描图 软硬组织侧貌、上下颌骨轮廓、颅底颅后部轮廓、筛板、蝶鞍轮廓、蝶骨斜坡、翼上颌轮廓、枕骨大孔前缘、枢轴齿状突、眶侧缘和下缘、上下中切牙和上下第一恒磨牙
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惯用x线头影测量标志点
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正畸投影测量
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正畸投影测量
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惯用基准平面
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1前颅底平面 2眼耳平面 3Bolton平面
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惯用测量平面
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1颅底平面 2腭平面 3合平面
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1下颌角点与颏顶点间连线(Go-Gn)
2经过颏下点与下颌下缘相切线条
3下颌下缘最低部切线
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1下颌升枝平面 2Y轴 3面平面
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惯用硬组织测量项目
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SNA角
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SNB角
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ANB角
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面角
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Y轴角
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下颌平面角
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颌凸角
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上颌长
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翼上颌裂-蝶鞍点
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下颌长
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髁突后切线_蝶鞍点
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上中切牙角
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下中切牙角
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上中切牙凸距
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上中切牙凸距
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下中切牙凸距
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下中切牙凸距
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1全方面高 2上面高 3下面高
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Downs分析法
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谢 谢!
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