文档介绍：浙江大学
硕士学位论文
嵌入式SRAM的可测性设计研究
姓名:徐歆
申请学位级别:硕士
专业:电路与系统
指导教师:竺红卫
20070501
摘要随着信息技术的发展,设计越来越复杂,给芯片的生产带来比较大的挑战,特别是芯片的管脚逐渐增加,降低了芯片的成品率。如何尽早地发现芯片生产过程中造成的缺陷已成为一个棘手的问题,需要一种好的测试方法来解决这个问题以缩短推向市场的时间。嵌入式存储器是低持屑擅芏茸罡叩钠件,而存储器又是对制造过程中存在的缺陷最敏感的器件之一,各种类型的嵌人式存储器在当前的杓浦斜还惴河τ茫加昧薙系统大部分面积。为确保存储数据的可靠性,针对存储器傲迅速而高效的测试是不可或缺的,因此如何对嵌入在低持械拇娲⑵鹘型瓯傅牟馐猿晌<毙杞饩龅目翁狻本文的研究即是针对低持械那度胧酱娲⑵鞯目刹庑陨杓莆侍饨的,主要包括了以下几方面的工作:首先讨论了低秤绕涫瞧渲械那度胧酱娲⑵鞯目刹庑缘闹匾P院椭饕的测试方法,并对这几种测试方法的优缺点进行比较和总结,进而得出是当前嵌入式存储器测试最主流最高效的方法的结论。然后针对低持谐S玫腟娲⑵鹘樯芰薓的概念,并结合结构中存在的各种故障模型讨论了现今杏τ米钗9惴旱腗氩算法以及惴ǖ牟馐栽怼T诖嘶≈希疚纳杓屏艘桓龌于有限状态机的可编程缏罚薓电路可以根据用户的选择实现多种惴ǎ狹的移植和复用提供了灵活性。本文在最后针对传统惴岩圆馐許B饭收系奈侍馓岢隽艘种称为预放电写入测试模式目刹庑陨杓品椒ǎü黾由偈募个门,使得存储器在几乎不增加外部附加逻辑的基础上能跟原有的基于惴ǖ腗电路结合,很好的测试出其中的开路故障。文中通过对故障模型的仿真,显示了椒ㄔ诓馐粤槊舳群筒馐时间等方面相比于传统方法的优势。嵌入式的可测性设计研究电路与系统徐歆
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第一章引言应比较电路加在被测电路蠺小<だ缏凡罅考だ藕牛⒔溆τ司的各种版图或称核的时代。例如,现在一个定芯片可能包括嵌入式致垡恢中滦偷腄方法,来解决传统方法中存在的难题。依次分以下随着集成电路工艺技术的发展,集成电路设计的规模越来越大,基于的杓普诔晌狪杓频闹髁鳎颐且丫肓嗽诘ジ鲂酒霞衫醋圆煌⑽⒋砥鳌处理器和多种模拟电路版图。各种伊核的出现为杓带来了很大的便利,嵌入式存储器核是最常用的核之一,使用它可以增大数据带宽,同时减少硬件开销,对提高男阅芷鹱胖匾5淖饔谩H欢孀虐氲继工艺尺寸不断缩小,嵌入式存储器可能存在的故障类型越来越多。并且由于疧引脚的限制,测试时间和测试成本都急剧增长,这使得嵌入式娲⑵骺赡成为芯片中最难于测试的数字电路类型,因为存储器测试需要给存储器提供大量的测试矢量激励并读出大量的单元信息。目前,为了减少嵌入式存储器的测试成本,存储器内建自测试为了大规模嵌入式存储器可测性设计的主流技术。它是将一个激励电路和一个响于校煊Ρ冉系缏肪陀美炊訡的响应进行对比评测。悄谥玫模并不会占用过多的移洳馐孕阅懿皇芨涸匕寤虿馐酝返缙匦缘南拗啤在可复用内核或诓看蟮淖榭樵擞肕,还可以大大降低馐陨傻复杂程度。带有嵌入式测试电路的内核还可让7⒄甙谕呀猩馐缘姆琐,使真正的嵌入式即用杓瞥晌?赡堋本论文的主要工作是对进行可测性设计的相关研究,设计出相应的缏罚⒄攵源称氩中难于测试的开路故障几个章节论述:第二章,主要探讨低秤绕涫乔度胧酱娲⑵骺刹庑陨杓频闹匾P裕⒔绍嵌入式存储器的几种主要测试方法,分析它们之间的优缺点。第三章,主要针对六管结构介绍的各种故障模型,分析其故障表现及成因。在此基础之上,提出当今最主流的馐约际醯母拍罴癕结构中通常采取的各种测试算法,分析比较几种算法之间的异同和优势,然后以其中的几种常用算法为例,设计一个能够灵活选择测试算法的路,以此来体现可编程缏返姆椒ā第四章,在前两章的基础上,针对传统齐步测试算法中存在的对于开路故障牟馐阅训悖岢鲆恢挚刹庑陨杓品椒ǎ沟肞能在不改变传统齐步算法的基础上进行全速测试,并通过对P偷姆抡妫得了这种可测性设计方法的测试成效,体现了其优于传统方法的部分。嵌入式的可测性设计研究电路与系统徐献
第五章是结束语,对本论文的工作进行了总结,并对今后可以开展的研究工作进行了展望。嵌入式的可测性设计研究电路与系统徐献
,这是因为娲⑵魇堑缱硬返墓丶糠郑苯竦氖窒低炒蟛糠侄及ù娲⑵鳌娲⑵餍酒拿芏群透丛映潭热找嫣岣撸潭壬踔脸宋⒋砥鳌娲⑵鹘峁咕哂泄媛尚裕庵钟泄媛傻慕峁顾淙辉谏杓瞥跗诳梢子诮行可测性设计,但因包含时序特征的单元,存储器测试比结构有规律的组合电路的测试要复杂得多。娲⒌ピ@嘈偷亩嘌4娲⑵鞯ピ@嘈陀蠸、鹊取与此同时,现今的半导体制造商大都在其存储器阵列技术中显现产品、