文档介绍：(74LS86)*、或非门、与非门组成的全加器电路的逻辑功能测试(选做)实验步骤1、检查芯片完好每个小组在数字电路试验箱上找到本次实验所需要的芯片,并查看芯片形状是否完好,芯片管脚有没有插牢。2、查看数字电路实验箱74LS0074LS863、了解芯片芯片管脚示意图4、实验内容与结果(一)(选用芯片74LS00)输入输出ABCY1Y2000011110011001101010101(1)按上图接线(注意数字编号与芯片管脚编号对应)(2)写出Y2的逻辑表达式并化简。(3)图中A、B、C接实验箱下方的逻辑开关,Y1,Y2接实验箱上方的电平显示发光管。(4)按表格要求,拨动开关,改变A、B、C输入的状态,填表写出Y1,Y2的输出状态。(5)将运算结果与实验结果进行比较。5、记录实验结果(二)(74LS86)和与非门(74LS00)组成的半加器电路输入输出ABYZ00110101(1)在数字电路实验箱上插入异或门和与非门芯片。输入端A、B接逻辑开关,Y,Z接电平显示发光管。(2)按表格要求,拨动开关,改变A、B输入的状态,填表写出y、z的输出状态,并根据真值表写出y、z逻辑表达式。5、记录实验结果(三)-1YZX1X2X3SiCi0000010100111001011101115、记录实验结果(四)自己设计实现逻辑函数,给出逻辑电路连接图,并连接调试。