文档介绍：电子科技大学微电子与固体电子学院标准实验报告(实验)课程名称模拟集成电路原理电子科技大学教务处制表电子科技大学实验报告学生姓名:学号:指导教师:实验地点:211-606实验时间:2011-06-19一、实验室名称:微电子技术实验室二、实验项目名称:集成运算放大器参数的测试三、实验学时:4四、实验原理1、开环电压增益开环电压增益是指放大器在无反馈时的差模电压增益,其值为输出端电压变化量∆V0和输入电压变化量AVo=∆Vo∆VI(1)由于AV0很大,输入信号VI很小,加之输入电压与输出电压之间有相位差,从而引人了较大的测试误差,实际测试中难以实现。测试开环电压增益时,都采用交流开环,直流闭环的方法。测试原理如图2所示。图2开环直流电压增益测试原理图直流通过RF实现全反馈,放大器的直流增益很小,故输入直流电平十分稳定,不需进行零点调节。取CF足够大,以满足RF>>l/ωCF,使放大器的反相端交流接地,以保证交流开环的目的。这样只要测得交流信号电压vS和vo,就能得到(2)在讯号频率固定的条件下,增加输入信号电压幅度,使输出端获得最大无失真的波形。保持输入电压不变,增加输入电压频率,,此时频率为开环带宽。,使得两个输入端都接地时,输出电压不为零,称为放大器的失调。为了使输出电压回到零,就必须在输入端加上一个纠偏电压来补偿这种失调,这个所加的纠偏电压就叫运算放大器的输入失调电压,用VIO表示。故VIO的定义为使输出电压为零在两输入端之间需加有的直流补偿电压。输入失调电压的测量原理如图4所示。图中直流电路通过RI和RF接成闭合环路。通常RI的取值不超过100,RF》RI,这时若测得输出电压为Vo1,就可推算出输入端的失调电压为(8)图4输入失调电压和失调电流测试原理图3、共模抑制比kCMR运放应对共模信号有很强的抑制能力。表征这种能力的参数叫共模抑制比,用kCMR表示。它定义为差模电压增益AVD和共模电压增益AVC之比,即图5共模抑制比测试原理图测试原理如图5所示。由于RF》RI,该闭环电路对差模信号的增益。共模信号的增益VS,即可求出共模抑制比因此,只要从电路上测出VO和(12)kCMR的大小往往与频率有关,同时也与输入信号大小和波形有关。测量的频率不宜太高,信号不宜太大。4、电压转换速率SR的测试电压转换速率SR定义为运放在单位增益状态下,在运放输入端送入规定的大信号阶跃脉冲电压时,输出电压随时间的最大变化率。图6电压转换速率侧试原理图SR的测试原理如图6(a)所示。测试时取RI=RF,在输入端送入脉冲电压,从输出端见到输出波形,如图6(b)所示。这时可以规定过冲量的输出脉冲电压上升沿(下降沿)的恒定变化率区间内,取输出电压幅度∆V0和对应的时间∆t,然后由计算公式求出(13)通常上升过程和下降过程不同,故应分别测出SR+和SR-。5、开环带宽保持输入电压不变,增加输入电压频率,当输出电压的幅值降