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文档介绍：统计过程控制SPCStatistical Process Control
SPC-正态分布图的制作与分析
1. 制作直方图
. 抽样编号
. 样品计量
. 计算极差 R=Xmax-Xmin
. 数据分组 K
. 确定组距 d
. 确定各组区间的端点 ak
. 计算每组中值 Yi
SPC-正态分布图的制作与分析
. 统计样本落在每个区间的频数
. 建立直方图



SPC-正态分布图的制作与分析
2. 制作正态分布图
. 找出每个长方形的中点
. 用光滑曲线使中点相连
示例——灯片重量
SPC-正态分布图的制作与分析
3. 控制图——过程控制的有力工具
. 控制图的构成
. 均值和极差图(X-R)的建立

选择子组大小
原则“应使得一个子组内在该单元中的各样本之间出现变差的机会小”
SPC-正态分布图的制作与分析
选择子组频率
选择子组组数
,记录原始数据

X=(1/n)∑Xi R=Xmax-Xmin

X图
(最大刻度值-最小刻度值)>2(Xmax-Xmin)
R图
最大刻度值>Rmax
SPC-正态分布图的制作与分析


计算过程平均值X和平均极差R
X=(1/n)∑Xj R=(1/n)Rk
计算控制限
UCLx=X+A2R LCLx=X-A2R
UCLR=D4R LCLR=D3R

SPC-正态分布图的制作与分析


点
线(链)
区——图形的趋势
非随机图形的表现
子组内数据点总体分布准则
特殊原因的标注、对策和改善
纠正改善后重新计算极差图控制限
SPC-正态分布图的制作与分析

点
线(链)
区
SPC-正态分布图的制作与分析
?

,UCL/LCL
计算估计标准偏差σR/d2=R/d2
计算其它值
R新= σR/d2· d2新
UCLR新=D4· R新 LCLR新=D3· R新
UCLX新=X+A2· R新 LCLX新=X-A2· R新