文档介绍：摘要摘要慢正电子束技术(SlowPositronTeclⅡlique)已经成为凝聚态物理学、化学和材料科学研究的主要研究工具之一,对材料表面微观缺陷的分析有明显的优越性。慢正电子湮没寿命测量主要利用慢正电子束流的单***及能量连续可调等特点,研究缺陷在材料表面或近表面不同深度的分布信息。获得慢正电子湮没寿命测量起始时间的方法主要有两种:(1)利用慢正电子入射到样品时产生的二次电子获取时间起始信号;(2)利用对慢正电子束流进行脉冲化的脉冲调制信号作为起始信号。对慢正电子寿命谱仪而言,前者由于二次电子的能量和角度的分散性导致时间分辨率较低,目前最好可达350ps(FWHM);而后者的时间分辨率可达135~250ps(FWHM)。为打破国内材料科学的研究限制,追赶国际先进正电子研究手段的步伐,根据低能脉冲调制正电子束技术,中国科学技术大学的核固体物理实验室设计了一套脉冲式慢正电子寿命谱仪装置,其脉冲调制系统包括斩波器(Chopper)、预集束腔()、主集束腔()和脉冲调制电子学系统。谱仪装置的设计目标是使连续的慢正电子束流经过三路信号的调制后,在样品处得到宽度为150~200ps的正电子窄脉冲,并实现慢正电子谱仪装置的寿命测量达到好于200ps的时间分辨。根据谱仪装置的设计原理并在参考赫尔辛基大学和北京高能所同类装置电子学系统的基础上,将谱仪电子学系统分为两个子系统:其一为脉冲调制电子学系统,该系统必须产生三路同步的高精度调制信号,来实现对慢正电子束的“筛选"和“聚焦",以便在样品处得到宽度为150~200ps的正电子窄脉冲;同时,该系统必须提供与斩波器信号同步的时间起始信号。其二为高精度时间测量电子学系统,该系统必须对脉冲调制电子学系统给出的时间起始信号和探测器给出的时间停止信号进行高精度的时间间隔测量,以达到谱仪装置好于200ps的时间分辨。为了能够达到谱仪装置的设计目标,对电子学系统提出以下要求:,且具有大于5V的幅度、小于2ns的上升沿和下降沿、约7nS的脉冲宽度;预聚束腔和主聚束腔信号分别为频率50MHz和200MHz的正弦信号,且幅度都大于2V;;;。从上述要求可知,如何获得快边沿脉冲信号、保证各路信号间的低晃动及实摘要现高精度的时间测量将是电子学系统设计的难点所在。针对设计要求及难点,在电子学系统设计中主要采用如下的技术路线:以一路时钟信号作为“源"信号,运用直接数字频率合成技术由此“源"信号产生一个频率可进行微调的高频信号,并通过对此高频信号进行分配分频得到三路信号,这是保证信号间相位稳定的关键;运用脉冲宽带放大技术获得大幅度快边沿信号,在获得快边沿信号的同时保证了引入较小的相位晃动;运用高精度的门延时技术实现信号间的相位调整;使用专用的TDC器件实现高精度的时间测量。本论文设计有如下几个主要特点:由一路信号通过变化得到三路信号的方法保证了在每次系统上电时信号间都能够有确定的相位关系;,同时保证了对信号附加较小的晃动;精密门延时技术实现信号间相位的调整;,保证了系统的测量精度;内部集成DSP硬核大容量可编程逻辑器件(FPGA)的使用,为在线核信号数字处理提供研究平台,同时,为电荷修正的前沿定时方式时间测量作进一步的研究提供了测试平台,便于与恒比定时方式时间测量进行对比性实验;国内首台自行设计、以集成电路芯片为基础的脉冲式慢正电子寿命谱仪电子学系统原型机。系统的主要功能集成在NIM插件电路上实现,避免了使用大量的分立器件而存在的不兼容风险,同时,避免了由国外商业模块搭建的集成系统不容易根据实验条件改造和调节的缺点,增加了系统的灵活性。目前,本论文所设计的电子学系统原型机已经完成,并经过了一系列电子学测试,测试结果表明电子学系统设计满足设计指标要求,即将与慢正电子寿命谱仪一起进行联合实验测试。关键词:慢正电子寿命谱仪,相位晃动,相位调整,脉冲调制,时间测量Abs仃actAbStraCtPositron锄limlationlifetimespectroscopy(PALS)isasensitiVeprobeofVac趾cyt),-印tedtobcausemltoolforsurfjaCe咖dies,suchasnoIldestructivedeptllprofilillgofdefectSi11sur: