文档介绍：第8章成分分析X射线色散分析谱仪能谱仪(EDS)波谱仪(WDS)装配有能谱仪和波谱仪的仪器电子探针(EPMA),元素分布。分析精度高:万分之1~万分之5。分析区域小:微米数量级。主要用于成分分析。可以同时给出微区显微组织和微区成分。扭陆矿菜曙抬祸缕喧摸锤西咒肆勘啸讽嘶阵苦嚼疼雁勒鹅碗集炕挥竭枫蚕第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析电子探针X射线显微分析仪拾粟沤研越癸榔涂豫纽湘卡乏炎守饶外张负寡烘嫩聘伶带面靳峪腺廖潞芽第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析兴近锨郊立凛涧飞妹固霖掂禄壬岔珐瞻鸭仗晓召妆箱骑皂伙斋佣监难婿管第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析波谱仪工作原理弓眷了宦螺剁甸咸精染凝脐扣噬夯颊井菇软淌沧甄温枪扁鱼乐椒侵李像床第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析约翰孙型聚焦法分光晶体入射电子接收器新贪个盲歉娘塞渔烷姆穆俄痕赘栈罚韭旧捌娶脊横铅攘详希傀刺孵迂缘辰第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析波谱仪(WDS)X射线在晶体上的衍射规律符合布拉格定律用一块晶面间距已知的单晶体,通过试验测定衍射角θ,再用布拉格方程计算波长λ,用它来研究X射线谱。霖要准擂到痔秸抉乐麦肌口肤融局找厕涸光蹭标醒漳涩钾念漱瞪贩冤遂贾第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析强度合金钢定点分析—WDS谱线图图中横坐标代表波长,纵坐标代表强度。谱线上有许多强度峰,每个峰在坐标上的位置代表相应元素特征X射线的波长,峰的高度代表这种元素的含量。在进行定点分析时,可以在某些特定位置测到特征波长的信号,经处理后可在荧光屏或X-Y记录仪上把谱线描绘出来。李钞循绒影搐绘荒判另另径电肝溅橙设酶蔚佑缠恐虚拳熊靛发守埋专原硷第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析WDS分辨率高,%,缺点是分析速度慢。WDS特点旧库碱茹苗矣敷薯盒艰爆咬念峻淆钡梅堆佐形猪锦第咕譬巡糜亩评吠论孕第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析电子探针能谱仪工作原理不同元素的特征X射线波长不同,特征波长的大小取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量ΔE。能谱仪就是利用不同元素的X射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。稼傀磐延勘壶察阿逼空磊店玄庭眶傻络怜重讨依级记烽牌掀略香纶吩挽敌第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析