文档介绍：实验一运算器实验(一)算术逻辑运算实验一、。(74LS181)的组合功能。二、实验原理实验中所用的运算器数据通路如图1—1所示。其中运算器由两片74LS181以并/串形式构成8位字长的ALU。运算器的输出经过一个三态门(74LS245)和数据总线相连,运算器的两个数据输入端分别由两个锁存器(74LS273)锁存,锁存器的输入连至数据总线,数据开关(INPUTDEVICE)用来给出参与运算的数据,并经过一三态门(74LS245)和数据总线相连,数据显示灯(BUSUNIT)已和数据总线相连,用来显示数据总线内容。图1—1中已将用户需要连接的控制信号用圆圈标明(其他实验相同,不再说明),其中除T4为脉冲信号,其它均为电平信号。由于实验电路中的时序信号均已连至“W/RUNIT”的相应时序信号引出端,因此,在进行实验时,只需将“W/RUNIT”的T4接至“STATEUNIT”的微动开关KK2的输出端,按动微动开关,即可获得实验所需的单脉冲,而S3、、S2、S1、S0、、CN、、M、LDDR1、LDDR2、ALU—B、SW—B各电平控制信号用“SWITCHUNIT”中的二进制数据开关来模拟,、、ALU—B、SW—B为低电平有效,、LDDR1、LDDR2为高电平有效。三、实验仪器TDN-CM+计算机组成原理教学实验系统一台,排线若干。四、实验步骤按图1—2连接实验线路,仔细查线无误后,接通电源。用二进制数码开关向DR1和DR2寄存器置数。具体操作步骤图示如下:寄存器DR2(10100111)数据开关(10100111)寄存器DR1(01100101)三态门数据开关(01100101)ALU-B=1LDDR1=1LDDR1=0SW-B=0LDDR2=0LDDR2=1 T4=T4=检验DR1和DR2中存的数是否正确,具体操作为:关闭数据输入三态门(SW-B=1),打开ALU输出三态门(ALU-B=0),当置S3、、S2、S1、S0、M为11111时,总线指示灯显示DR1中的数,而置成10101时总线指示灯显示DR2中的数。图1—1运算器数据通路STATEUNITKK2W/RUNITT4TooALUUNITLDDR1AUJ3ALU-LDDR2o---o---BUSUNITo o o oooo o oo o---ooo ---SW-BALU-LDDR1LDDR2SWITCHUNITSWJ3SW-BINPUTDEVICE oo图1—2实验接线图(3)验证74LS181的算术运算和逻辑运算功能(采用正逻辑)在给定DR1=65、DR2=A7的情况下,改变运算器的功能设置,观察运算器的输出,填入下表中。五、分析整理实验数据,写出实验报告。六、思考题将实验数据和理论分析进行比较、验证。分析产生错误的原因。DR1DR2S3S2S1S0M=0(==0有进位M=1逻辑运算656565......A7A7A7......00000010100111001011101110000011010101111001**********F=(65)F=(E7)F=(7D)F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=(66)F=(E8)F=(7E)F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=(9A)F=(18)F=(82)F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()F=()表1—1实验二运算器实验(二)移位运算实验一、实验目的验证移位控制的组合功能。二、实验原理图2—1移位运算实验原理图移位运算实验原理如图2-1所示,使用了一片74LS299作为移位发生器,其八输入/输出端以排针方式和总线单元连接。299—B信号控制其使能端,T4时序为其时钟脉冲,实验时将“W/RUNIT”中的T4接至“STATEUNIT”中的KK2单脉冲发生器,由S0、S1、M控制信号控制其功能状态,其列表如下:299—BS1S0M功能000任意保持0100循环右移0101带进位循环右移0010循环左移0011带进位循环左移任意11任意装数三、实验仪器TDN—CM+计算机组成原理教学实验系统一台,排线若干。四、实验步骤按图2—2连接实验线路,仔细查线无误后接通电源。STATEUNITKK2W/RUNITT4ooALUUNITAUJ1299—BS1S0MBUSUNITo---o ooooSW-B299-BS1S0MSWITCHUNITSWJ3SW-BINPUTDEVICEo---o图2—2实验接线图(2)移位操作:置数,具体步骤如下:置数(01101011)数据开关(01