文档介绍：一文瞧懂XRD基本原理(必收藏)XRD全称X射线衍射(X-Ray Diffraction),利用X射线在晶体中得衍射现象来获得衍射后X射线信号特征,经过处理得到衍射图谱。利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜得确定物相,并拥有“透视眼”来瞧晶体内部就是否存在缺陷(位错)与晶格缺陷等,下面就让咱们来简要得了解下XRD得原理及应用与分析方法,下面先从XRD原理学习开始。1X射线衍射仪得基本构造XRD衍射仪得适用性很广,通常用于测量粉末、单晶或多晶体等块体材料,并拥有检测快速、操作简单、数据处理方便等优点,就是一个标标准准得“良心产品”。在X射线衍射仪得世界里, X射线发生系统(产生X射线)就是“太阳”,测角及探测系统(测量2θ与获得衍射信息)就是其“眼睛”,记录与数据处理系统就是其“大脑”,三者协同工作,输出衍射图谱。在三者中测角仪就是核心部件,其制作较为复杂,直接影响实验数据得精度,毕竟眼睛就是心灵得窗户嘛! X射线产生原理X射线就是一种频率很高得电磁波,其波长为10-8—10-12m远比可见光短得多,因为其穿透力很强,并且其在磁场中得传播方向不受影响。小提示:X射线具有一定得辐射,对人体有一定得副作用,目前主要铅玻璃来进行屏蔽。X射线就是由高速运动得电子流或其她高能辐射流(γ射线、中子流等)流与其她物质发生碰撞时骤然减速,,因为其原子序数不同,外层得电子排布也不一样,;,不管使用何种靶材得X射线管,从所得到得衍射谱中获得样品面间距d值就是一致得,与靶材无关。辐射波长对衍射峰强得关系就是:衍射峰强主要取决于晶体结构,但就是样品得质量吸收系数(MAC)与入射线得波长有关,,各相之间得MAC都随所选波长而变化,,该波长就称为材料得吸收限,若超过了这个范围就会出现强得荧光散射。所以分析样品中得元素选择靶材时,一般选择原子序数比靶得元素得原子序数小1至4。 Ni得样品就是合适得,而不适合分析含有Mn CrV Ti 得物质常见得阳极靶材有:Cr,Fe, Co, Ni,Cu,Mo, Ag,W,最常用得就是Cu靶。表1-1常见靶材得种类与用途靶材种类主要特长用途Cu适用于晶面间距0、1—1n测定几乎全部标定,采用单色滤波,测试含Cu试样时有高得荧光背底;如采用Kβ滤波,不适用于Fe系试样得测定。CoFe试样得衍射线强,如采用Kβ滤波,背底高最适宜于用单色器方法测定Fe系试样FeFe试样背底小最适宜于用滤波片方法测定Fe系试样Cr波长长包括Fe试样得应用测定,利用PSPC-MDG得微区测定Mo波长短奥氏体相得定量分析,金属箔得透射方法测量(小角散射等)W连续X射线单晶得劳厄照相测定3XRD基本理论基础(1)X射线衍射X射线衍射作为一电磁波投射到晶体中时,会受到晶体中原子得散射