文档介绍：Q/SIT-WS-01

测试技术标准
Test standards
沈阳敏像科技有限公司 Q/SIT T04--2006
测试技术标准
1 范围
本标准规定了数码摄像模组产品测试的技术标准。
本标准适用于数码摄像模组产品的测试。
2 规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后min所有的
修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用
于本标准。
Q/SMX01-2006 数码摄像模组
Q/SIT T05～07 检验标准
3 术语和定义
数码摄像模组分辨率
表征数码摄像模组对被摄景物细节的分辨能力。可分别用视觉分辨率和空间频率感应灵敏度表达。
分辩率极限
当空间输入频率等于数码摄像模组采样频率的 1/2 倍时，输入信号将开始出现混叠，此时的空间频
率达到数码摄像模组的分辩率极限，单位：（Lw/PH）。
帧频
帧频是数码摄像模组每秒钟产生完整图像的画面数，单位为“帧/秒”。
几何失真
数码摄像模组拍摄的画面相对于被拍摄图案（见附录C 几何失真测试图卡）的几何变形，亦称为畸
变。
如果实际像高大于被拍摄图像时为正畸变，亦称枕形畸变，如图1所示。反之，为负畸变，亦称桶
形畸变，如图2所示。其几何失真q按下式计算：
q=(y’-y)/y*100%
其中：y’—正畸变像面最小畸变尺寸，负畸变像面的最大畸变尺寸
y—与 y’对应的被摄图案的尺寸

图 1 枕形畸变图 2 桶形畸变
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沈阳敏像科技有限公司 Q/SIT T04--2006
坏点
在特定的照明条件下（亮度差＜10%），对数码摄像模组中像素的光电转换能力进行分析：
1）30 万 Pixel 芯片：在暗场条件下定义，坏点为比周围 40*40 个像素区域亮度平均值亮 29DN；在
白场条件下，定义坏点为比周围 40*40 个像素区域平均值暗 15%；
2）130 万 Pixel 芯片：在暗场条件下，定义坏点为比周围 40*40 个像素区域亮度平均值亮 200DN；
在白场条件下定义坏点为比周围 40*40 个像素区域平均值暗 40%；
3）200 万 Pixe 芯片：在暗场条件下，定义坏点为比周围 40*40 个像素区域亮度平均值亮 200DN；
在白场条件下定义坏点为比周围 40*40 个像素区域平均值暗 50%。
视场角
以角度来表示数码摄像模组能够观测到的最大视场范围。视场角可分为对角线视场角、水平视场角
以及垂直视场角。对角线视场角最大，水平视场角次之，垂直视场角最小，通常我们所讲的视场角一般
是指数码摄像模组的对角线视场角。
像面照度均匀度