文档介绍：2 射线检测及缺陷等级评定
目前射线检测主要有X射线检测、射线检测、
高能X射线检测和中子射线检测。
X射线、射线的产生和性质
一、 X射线的产生
由X射线管产生，其产生的X射线按其波长分为连续X射线和标识X射线。
射线检测中，X射线管所产生的都属于连续X射线。
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X射线管及其工作原理
～u
15～500kv 高压电源
－
＋
高压电缆
阳极靶
电子流
玻壳管
阴极罩
灯丝
X射线
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连续X射线的最短波长为：
式中，U——射线管电压，kV
连续射线管的转换效率为:
式中， ——比例常数，为10-6；
z——阳极靶材料原子序数，钨靶z=74
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二、射线的产生
γ射线是由放射性同位素的核反应、核衰变或裂变放射出的。常用的放射性同位素有60Co、192Ir等，它们是不稳定的同位素，能自发的放射出某种粒子（α、β等）或γ射线后变成另一种不同的原子核，这种现象称为衰变。其衰变速度可用半衰期反映。
半衰期是指放射元素原子核数目因衰变减少到原来原子核数目一半所需要的时间。
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γ射线的半衰期
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γ射线与X射线检测的不同点是： γ射线源无论使用与不适用其能量都在自然地逐渐减弱。
三、射线的性质
X射线、 γ射线同是电磁波，后者波长短、能量高，穿透能力大。
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X射线主要性质：
1、不可见，直线传播；
2、不带电，不受电场、磁场影响；
3、能穿透可见光不能透过的物质；
4、与光波相同，有反射、折射、干涉现象；
5、能被传播物质衰减；
6、能使气体电离；
7、能使照片胶片感光，使某些物质产生荧光作用；
8、能产生生物效应，伤害、杀死生命细胞。
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射线检测的原理和准备
一、射线检测原理
利用射线检测时，若被检工件内存在缺陷，缺陷与工件材料不同，其对射线的衰减程度不同，且透过厚度不同，透过后的射线强度则不同。
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如图所示，若射线原有强度为J0，透过工件和缺陷后的射线强度分别为Jδ和Jx，胶片接受的射线强度不同，冲洗后可明显地反映出黑度差部位，即能辨别出缺陷的形态、位置等。
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透过后射线强度之比为
Jx／ Jδ=eμx

式中 μ——衰减系数；
χ——透照方向上的缺陷尺寸；
可见沿射线透照方向的缺陷尺寸χ越大，
衰减系数μ越大，则有无缺陷处的强度差eμx
越大，Jx／ Jδ值越大，在胶片上的黑度差越
大，越易发现缺陷所在。
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