文档介绍：第12章光刻I
光刻胶与光刻工艺技术
微电路的制造需要把在数量上精确控制的杂质引入到硅衬底上的微小
区域内，然后把这些区域连起来以形成器件和VLSI电路。确定这些区域图形
的工艺是由光刻来完成的，也就是说，首先在硅片上旋转涂覆光刻胶，再将
其曝露于某种光源下，如紫外光、电子束或X－射线，对抗蚀层进行选择性的
曝光。完成这项工作需利用光刻机、掩模版，甚至电子束光刻时的数据带。
曝光后的硅片经过显影工艺就形成了抗蚀剂图形。显影后仍保留在硅片上的
抗蚀剂保护着其所覆盖的区域，已去除抗蚀剂的部分必须进行一系列增加(如
淀积金属膜)或去除(如腐蚀)工艺，以将抗蚀图形转印到衬底表面。
下面三章详细地叙述了VLSI的光刻工艺。第一章是抗蚀剂的特性和VLSI
制造中的光刻工艺技术。这个讨论仅限于光学曝光所用的抗蚀剂。第二章讨
论的是曝光工具，也即描述了光学光刻机和光掩膜。第三章讲述了先进的光
刻技术，包括电子束、离子束和X－射线图形形成技术。
抗蚀剂基本术语
光刻工艺基本步骤如图1所示。抗蚀剂(PR)作为一层薄膜涂覆到基片上
(如硅上面的二氧化硅上),再通过掩膜版曝光。掩膜版要保持干净，并含有要
转印到衬底上的不透明图形，以便在PR层上复制。PR经曝光后的区域有时变
成可溶于显影液性的，有时变成不溶于显影液性的。如果曝光后变得可溶于
显影液，则在抗蚀剂上产生掩膜的正性图形。这种物质就称为正性抗蚀剂。
反之，若未曝光区溶于显影液，就产生负性图形，就是负性抗蚀剂。显影后，
未被抗蚀剂覆盖的SiO2层就被腐蚀掉。这样就在氧化层上复印了掩膜版图形。
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在这步工艺中抗蚀剂有两个作用。首先必须对曝光有反应，以把掩膜
版图形复印到抗蚀剂上。其次余留的抗蚀剂在后面的工艺中必须保护下面的
衬底。正如抗蚀剂的名字一样，这种物质具有抵抗腐蚀的能力。
尽管半导体生产中使用
正性和负性两种抗蚀剂，但
由于正性抗蚀剂具有较高的
分辨能力，故VLSI中全部选
用正性抗蚀剂。正因如此，
本章几乎所有的讨论都限于
正性抗蚀剂和它的工艺。传
统的正性光学光刻工艺和抗
～µｍ
的VLSI生产。到了亚微米阶段，由于曝光中产生的衍射效应，必须发展分辨
率更高的技术来代替光学光刻。
通常，抗蚀剂的使用者并不过多关心抗蚀剂复杂的化学成分，而对其性
能较关心。本章主要讨论其性能。
通常的光致抗蚀剂由三种成分组成：a)、基体材料(也叫树脂)，作为粘
合剂，确定了膜的机械特性；b)、增感剂(也叫阻化剂),是一种感光的化合物
(PAC)；c)、溶剂(不同于显影液溶剂)，使抗蚀剂保持液态，但涂在衬底上时
会挥发掉。基体材料通常对入射辐射无反应。也就是说，照射下不发生化学
变化，但提供了有粘附力和耐腐蚀性的保护层，也确定了抗蚀剂的其它薄膜
特性，如厚度、折射性和热流稳定性。
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增感剂是抗蚀剂中对光化学辐射有反应的成分。词语“光化学的”与引起
光化学变化的辐射能量特性有关(尤其是在可见光和紫外光区间)。增感剂给
抗蚀剂提供耐显影剂特性和辐射吸收特性。
光致抗蚀剂材料参数
前面已经指出，抗蚀剂有两基本功能：1)、精确图形形成；2)、刻蚀时
保护衬底。抗蚀剂本身所拥有的一系列材料特性影响了这些功能的实现。这
些材料参数可分为三类：a)、光学性质：包括分辨率、感光灵敏度和折射率；
b)、机械及化学性质：包括固体成分含量、粘度、附着力、抗蚀能力、热稳
定性、流动特性及对环境气氛如氧气的敏感度；c)、有关加工和安全的性能：
包括清洁(颗粒含量)、金属杂质含量、工艺宽容度、贮藏寿命、闪点及安全
极限浓度(TLV，毒性的测量)。这一节里讨论这些参数、了解这些参数有助于
正确地选择与使用光刻胶。同时也给出了测量大多数参数值的方法。
分辨率
光刻工艺的分辨率在第十三章中有正规定义，是根据光刻曝光设置的调
节转换功能和与光刻胶匹配性定义的。然而，该词并不很正规，在工业中却
广泛应用，以指定在合理的生产变化情况下复制最小尺寸像的能力。这样为
了建立亚微米特性器件，就必须具有亚微米分辨率的光刻工艺。
用这种观点定义线宽也是很有用的。线宽是水平距离，L，即线条的截
面图中光刻胶材料与气流边缘之间的距离。这是在光刻胶－衬底界面上指定
高度处。(图2)。由于可以用不同的测量方法(如SEM或光学)测量同一线条的
线宽。这些线条可以是在截面图中不同高度处。故很