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AFM原子力显微镜技术及应用实验报告
AFM原子力显微镜技术及应用试验报告

原子力显微技术观测薄膜形貌
姓名：吴涵颖学号：5404312065 班级：工业工程122
发生形变，也就是说微悬臂的形变作为样品和针尖相互作用力的干脆度量。同上述轻敲式，反应系统保持针尖—样品作用力恒定从而得到外表形貌图。
原子力显微镜是用微小探针“摸索”样品外表来获得信息，所以测得的图像是样品最外表的形貌，而没有深度信息。扫描过程中，探针在选定区域沿着样品外表逐行扫描。

试验扫描的是光栅，纳米铜微粒以及纳米微粒，选用的是轻敲式。敲击模式优点：敲击模式在必须程度上减小样品对针尖的粘滞现象，因为针尖与样品外表接触时，利用其振幅来克制针尖\样品间的粘附力。并且由于敲击模式作用力是垂直的，外表材料受横向摩擦力和剪切力的影响都比拟小，减小扫描过程中针尖对样品的损坏。所以对于较软以及粘性较大的样品，应选用敲击模式。三、试验步骤：一、试验前打算： ①样品制备
1〕薄膜样品制备
把之前试验制备得的铜微粒纳米材料分散到溶剂中，比拟稀的状态下，然后涂于解离后的云母片上，自然晾干。
2〕纳米微粒制备
把纳米微粒材料分散到溶剂中，比拟稀的状态下，然后涂于解离后的云母片
2
AFM原子力显微镜技术及应用试验报告
上，自然晾干。
3〕光盘光栅制备
对于光盘光栅的样品获得，采纳胶纸法。先把两面胶纸粘贴在样品光盘上，在贴上样品座，在将样品座抠下来，保证外表的光滑和无杂质。 ②调光和寻共振峰
1) 粗调探测头部上方俩个旋钮，让激光光斑大约打在基座上。

2) 调探测头部上方某个旋钮，让光斑打在悬臂范围内。再调整另一端旋钮，同方向移动看四象限接收器上是否有3个亮斑。通常选择中间亮斑进展调整。另外调整光斑使其移动到悬臂尖端，然后回调两旋钮使得亮斑最为光亮圆润。
3) 调整探测头部侧面两个旋钮，通过软件调整使光斑根本打在四象限接收器中间。
4) 将“自动扫描”和“起振”选项勾上，进展扫频操作。
5) 寻峰的目的主要是选择可以使悬臂到达共振状态的激振频率，使悬臂到达共振状态来实现扫描。二、试验中测量过程
1〕依次开启：电脑-限制机箱-高压电源-激光器。 2〕用粗调旋钮将样品靠近微探针至两者间距<1 mm。
3〕再用细调旋钮使样品靠近微探针：顺时针旋细调旋钮，直至光斑突然向PSD移动。
4〕缓慢地逆时针调整细调旋钮并视察机箱上反应读数：Z反应信号约稳定在－150至－250之间〔不单调增减即可〕，就可以起先扫描样品。