文档介绍：2017-4-14 1仪器分析仪器分析第七讲第七讲 X X射线荧光光谱分析射线荧光光谱分析朱永法清华大学化学系 ******@tsinghua. 2017-4-14 2X X射线荧光光谱分析射线荧光光谱分析?基础知识 1923 年建立 X射线荧光分析方法; 1950 X 射线荧光分析谱仪 1980 全反射 X射线荧光谱仪?应用: 固体材料(矿物,陶瓷,建材,环境,金属材料,薄膜,镀层分析) ? Page 348-357 2017-4-14 3 XRF XRF 分析分析——方法原理方法原理?X射线荧光的产生原子中的内层(如 K层) 电子被 X射线辐射电离后在K层产生一个正孔穴。外层( L层)电子填充 K层孔穴时,会释放出一定的能量,当该能量以 X射线辐射释放出来时就可以发射特征 X射线荧光。 2017-4-14 4 XRF XRF 分析-原理分析-原理? Moseley 定律? 1/2=a( Z-b) X 射线荧光频率的平方根与元素的原子序数成正比。只要获得了 X射线荧光光谱线的波长就可以获得元素的种类信息?XRF 定性分析的基础?荧光 X 射线的强度与分析元素的质量百分浓度成正比。是 X射线荧光光谱的定量分析基础。 2017-4-14 5 XRF XRF -装置-装置?波长色散型 X射线荧光光谱仪利用分光晶体对 X射线的波长进行色散?能量色散型 X射线荧光光谱仪利用半导体直接测量 X射线的能量 2017-4-14 6 2017-4-14 7 XRF XRF -装置-装置 2017-4-14 8 XRF XRF -装置-装置波长色散原理 Bragg 方程 n?= 2dsin θ检测器置于角度为 2θ位置一般需要 10块分光晶体 2017-4-14 9 XRF XRF -装置-装置 X X射线源射线源一般分析重元素时采用钨靶,分析轻元素时采用铬靶 2017-4-14 10 XRF XRF -装置-分光晶体-装置-分光晶体