文档介绍：可控硅检测装置制造方法
可控硅检测装置制造方法
一种可控硅检测装置，，直流电源电压为12V，直流电源的正极与可控硅阳极相连接，直流电源的负极与指示灯相连接后与可控硅阴极相连接；直流电源的正极与复可控硅检测装置制造方法
可控硅检测装置制造方法
一种可控硅检测装置，，直流电源电压为12V，直流电源的正极与可控硅阳极相连接，直流电源的负极与指示灯相连接后与可控硅阴极相连接；直流电源的正极与复位开关相连接后与可控硅控制极相连接。本实用新型可控硅检测装置结构简单、操作方便，便于携带，检测准确，使用寿命长，提高了检测效率。
【专利说明】可控硅检测装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种电子元器件的检测装置，具体的说，是涉及一种可控硅检测装置。
【背景技术】
[0002]现有技术中，测量硅体好坏的仪器大多体积偏大，接线复杂，既不利于携带且操作复杂，尤其是对大容量硅体进行单个测量时倒线的工作量巨大，检测效率低，检测结果不准确。
【发明内容】
[0003]针对上述现有技术中的不足，本实用新型提供一种结构简单、操作方便，便于携带的可控硅检测装置。
[0004]本实用新型所采取的技术方案是:
[0005]一种可控硅检测装置，，直流电源电压为12V，直流电源的正极与可控硅阳极相连接，直流电源的负极与指示灯相连接后与可控硅阴极相连接；直流电源的正极与复位开关相连接后与可控硅控制极相连接。
[0006]本实用新型相对现有技术的有益效果:
[0007]本实用新型可控硅检测装置，结构简单、操作方便，便于携带的，检测准确，使用寿命长，提闻了检测效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0008]图1是本实用新型可控硅检测装置结构示意图。
[0009]附图中主要部件符号说明:
[0010]图中:
[0011]1、指示灯2、可控硅
[0012]3、复位开关。
【具体实施方式】
[0013]以下参照附图及实施例对本实用新型进行详细的说明:
[0014]附图1可知，一种可控硅检测装置，，直流电源电压为12V，直流电源的正极与可控硅阳极相连接，直流电源的负极与指示灯I相连接后与可控硅2阴极相连接；直流电源的正极与复位开关3相连接后与可控硅3控制极相连接。直流电源两端通过导线和线夹与可控硅两端裸露导线相连接。
[0015]采用八节电池串联原因:12VDC能可